판매용 중고 MITUTOYO YC-H260 #9267188

MITUTOYO YC-H260 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 고급 IC (집적 회로) 재료의 진단 테스트 및 분석을위한 혁신적인 도구입니다. 최고의 정확성과 반복성으로 샘플을 측정하고 검사하도록 설계되었습니다. YC-H260은 두 가지 주요 구성 요소 (Optoscanner 및 ID 팬 시스템) 를 포함하는 대규모 도구입니다. Optoscanner는 자동 XY 스테이지 어셈블리를 갖춘 100 개가 넘는 고급 이미징 장치로 구성됩니다. 이를 통해 처리 된 웨이퍼와 베어 실리콘 웨이퍼를 매우 정밀하게 측정하고 검사 할 수 있습니다. IDfan 장치는 반도체 구조의 도량형에서 최대 정확도를 얻기 위해 사용되는 광학 헤드 (optical head) 와 검출기 (detector) 배열로 구성됩니다. 즉, 사용자가 가장 작은 기능까지도 검사할 수 있으며, 다른 방법으로 감지되지 않는 결함을 감지할 수 있습니다 (영문). 또한 MITUTOYO YC-H260 에는 결과를 신속하게 분석하고 통계를 빠르고 정확하게 얻을 수 있는 특수 소프트웨어가 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어에는 통계 도량형 패키지, 이미지 분석 도구, 레이블 인식, 입자 수 계산 및 서피스 평가 기능이 포함됩니다. 따라서 데이터를 효율적으로 구문 분석 (parse) 하여 문제 영역을 신속하게 파악하고, 칩의 성능을 최적화할 수 있습니다. 또한, YC-H260 (YC-H260) 에는 다양한 환경 입력 옵션이 포함되어 있어 다양한 조건을 쉽게 시뮬레이션할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 다양한 환경 조건 (예: 고온 또는 저온) 에서 구성 요소의 성능과 안정성을 테스트할 수 있습니다. 또한 MITUTOYO YC-H260 (YC-H260) 은 편리한 터치 스크린 인터페이스를 활용하여 메뉴를 탐색하고 기계를 쉽게 작동시켜 사용자에게 친숙한 작동을 제공합니다. 즉, 경험이 부족한 사용자도 신속하게 이 툴을 활용하고, 투자 효과를 극대화할 수 있습니다. 전체적으로 YC-H260 Wafer Testing & Metrology Tool은 반도체 구성 요소를 진단하고 개선하기위한 귀중한 도구입니다. 고급 이미징 (advanced imaging), 반복 가능한 정확도, 통계 분석, 신뢰할 수 있는 환경 시뮬레이션 등의 기능을 통해, 사용자는 구성 요소의 성능과 신뢰성을 향상시키는 실용적인 도구를 제공합니다.