판매용 중고 MITUTOYO YC-H260 #9227871

MITUTOYO YC-H260은 다양한 반도체 제조 작업에서 고급 웨이퍼 테스트를 위해 설계된 웨이퍼 도량형 및 검사 장비입니다. 이 시스템은 최대 0.5 마이크로미터의 정확도로 고성능 스테이지 컨트롤을 제공합니다. 또한 CMOS (Full-Frame Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 이미지 센서를 활용하는 통합 이미지 획득 시스템 (Integrated Image Acquisition Machine) 을 통해 카메라 성능을 최적화하면서 세부 사항이 강한 고품질 이미지를 캡처할 수 있습니다. 이 도구는 여러 표본의 측정을 수행할 수있는 고급 분석 자산 (Advanced Analysical Asset) 을 특징으로하며, 높은 정확도로 결과의 진폭, 강도, 단계를 얻을 수 있습니다. 또한 웨이퍼의 전기 특성을 추출 및 분석하기위한 독점적 인 ECAD 분석기가 특징입니다. YC-H260 (YC-H260) 은 또한 여러 환경 표준을 준수하는 환경 챔버 (Environmental Chamber) 를 갖추고 있으므로 다양한 온도로 다양한 재료를 평가 할 수 있습니다. 고정밀도 (high-precision) Z축은 샘플 스테이지의 이동을 제어하여 카메라 (camera) 와 광학 장비 (optical equipment) 에 제대로 맞춰져 있는지 확인하여 모델의 무결성을 보장합니다. 자동 초점 시스템 (Automated Focus System) 을 갖춘 이 장치는 심도가 높은 선명한 이미지를 캡처하기 위해 강화된 초점 범위를 갖추고 있습니다. 이 기계는 또한 다양한 이미지에 대한 유연한 분석을 제공하는 고급 소프트웨어 (advanced software) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 자신의 측정 및 분석 프로그램을 사용자 정의할 수 있습니다. 즉, 패턴 일치 (pattern matching), 추적 (tracking) 과 같은 기능으로 선명한 이미지와 신뢰할 수 있는 데이터를 사용하여 복잡한 정렬과 측정을 수행할 수 있습니다. 이 도구를 사용하면 소음 속도가 낮은 고정밀 측정 (high-precision measurement) 을 생성할 수 있으며, 정확한 결과와 여러 표본의 효율적인 분석을 위한 재현 가능한 데이터를 제공합니다. 이 자산은 고유 한 기술을 사용하여 32 수준의 감도를 가진 100 마이크로 미터 입자를 감지하여 명확하고 정확한 이미징을 만듭니다. 또한 사용자가 다양한 측정을 위해 사용할 수있는 여러 검사 필터와 옵션 (옵션) 을 갖추고 있습니다. 또한 샘플의 상태와 특성을 분석 및 판단하기위한 몇 가지 시각 검사 함수 (visual inspection function), 색상 분석 함수 (color analysis function) 및 크기 분석 함수 (size analysis function) 가 있습니다. 이 모델에는 USB 포트가 장착되어 있어 PC 에 쉽게 접속할 수 있고, 데이터를 전송하거나, 저장하고, 호스트 컴퓨터에서 데이터를 수신할 수 있습니다.