판매용 중고 MITUTOYO YC-H250 #9227872

MITUTOYO YC-H250은 반도체 생산을위한 웨이퍼를 정확하게 측정 할 수있는 높은 정확도 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 낮은 드리프트 스캐닝/프로파일 링 플랫폼과 높은 정확도 인코더를 사용하여 1 초 이내에 미크론 공차를 매우 정확하게 측정합니다. 이 장치는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 다양한 통합 기능을 자랑합니다. 예를 들어, 초점 렌즈의 자동 광학 조정을위한 동적 초점 제어 (Dynamic Focus Control) 와 부드러운 동작 연산 기능을 갖춘 모듈식 웨이퍼 전송 머신 (Modular Wafer Transport Machine) 이 있습니다. 이 에너지 효율적인 도구는 LED 조명 (LED Illumination) 또는 고도의 정밀도 결과를 위한 플레어 보상 (옵션) 을 제공합니다. YC-H250 자산은 다중점 true 3D 측정 기능, 기울어진 이미지 교정을 통한 다축화, 자동 입자 크기 분석 등 다양한 고급 옵션으로 업그레이드 할 수도 있습니다. 이 모델은 사용자 친화적 인 소프트웨어와 높은 정확도 터치 프로브 (touch probe) 를 조합하여 자동 오류 보상, OMEGA 소프트웨어, DDM 호환성 등의 기능을 통해 프로덕션 라인 테스트 및 검사를 완전하게 자동화할 수 있습니다. 이 장비는 또한 완벽하게 지원되는 다양한 구성 요소 (예: 인스턴트 오류 경고가 있는 작동 지침, 자동 작동 조정 및 진단, 원격 진단 및 지원) 와 통합됩니다. 최고 정확도와 성능을 보장하기 위해 시스템은 연마 장치 (polishing unit), 내장 스케일 (bist-in scale), 기울기/원형 웨이퍼 테이블 (tilt/circular wafer table) 및 웨이퍼 분석을위한 통합 측정 시스템 (integrated measuring system) 과 같은 다양한 구성 요소를 표준으로 제공합니다. MITUTOYO YC-H250 (MITUTOYO YC-H250) 장치에는 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 있어 편리한 스토리지 및 데이터 관리, 시스템 설치 및 작동이 가능합니다. YC-H250 툴은 반도체의 생산 및 품질 보증을 위해 매우 안정적이고 정확한 테스트 및 도량형 솔루션입니다. 빠른 주기 (fast cycle) 와 업그레이드 (upgrading) 기능을 통해, 이 자산은 운영 제품군 측정을 위한 보다 빠르고 정확한 측정이 요구되는 기업을 위한 완벽한 성능/가치 조합을 제공합니다.