판매용 중고 MITUTOYO SJ-401 #9292736

MITUTOYO SJ-401은 반도체 웨이퍼의 빠르고, 정확하며, 자동화된 품질 제어를 위해 설계된 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 제조 및 개발 실험실, 연구 및 웨이퍼 제조 (wafer manufacturing) 에 사용됩니다. 이 시스템은 대량 테스트, 3D 측정, 왜곡 평가, 결함 분석 등 모든 waferprocessing 에 대해 포괄적인 기능을 제공합니다. 사용자는 유닛의 강력한 알고리즘과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 활용하여 웨이퍼 품질 분석 (wafer quality analysis) 프로세스를 자동화하고 wafer 가 국제 표준을 준수하도록 할 수 있습니다. SJ-401에는 향상된 3D 측정을 제공하는 최적화된 광학 머신이 있습니다. 공구는 높이 프로파일 (height profile) 을 측정하고, 피쳐 간의 거리를 측정할 수 있으며, 미세한 텍스쳐를 1 유도까지 구분할 수 있습니다. 이 자산에는 수집된 데이터의 추가 분석을위한 상세한 이미징을 제공하는 대형, 고해상도 (High-Resolution) 카메라가 포함되어 있습니다. 이 모델에는 기하학적 (geometrical) 및 왜곡 측정 (distortion measurement) 과 같은 다양한 자동 도구가 포함되어 있습니다. 이러한 자동화된 도구를 사용하면 웨이퍼의 기하학적 특성을 빠르고 정확하게 측정할 수 있고, 웨이퍼 (wafer) 의 왜곡 매개변수를 평가할 수 있습니다. 또한, 장비는 긁힘, 오염, 균열 등 다양한 결함을 감지 할 수 있으며, 이는 문제의 근본 원인을 식별하는 데 도움이 될 수 있습니다. MITUTOYO SJ-401 은 분석 및 보고 작업을 용이하게 하기 위해 테스트/측정 결과에 대한 종합적인 보고서를 생성할 수 있는 소프트웨어 (소프트웨어) 를 보유하고 있습니다. 이 소프트웨어는 다국어 SPC/QC 소프트웨어와 통합되어 효율적인 품질 관리를 지원합니다. 따라서 테스트 결과를 분석하는 데 필요한 시간과 리소스가 줄어듭니다. 요컨대, SJ-401 은 자동화된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템으로, 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 품질을 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. 고해상도 카메라, 자동 측정 도구, 멀티프로토콜 보고 소프트웨어 등 다양한 고급 기능을 제공합니다. 이를 통해 MITUTOYO SJ-401은 웨이퍼 제작 및 개발 실험실에서 품질 제어에 이상적인 선택이됩니다.