판매용 중고 MITUTOYO SJ-400 #9409431

ID: 9409431
Surface roughness profilometer.
MITUTOYO SJ-400 Wafer Testing and Metrology Equipment는 웨이퍼 기반 구성 요소의 품질 검사를 위한 일체형 솔루션으로 설계되었습니다. 이 시스템은 AC 및 DC 검사 기능과 컨택트 웨이퍼 검사 장치를 모두 갖추고 있습니다. DC 머신은 비접촉 (non-contact) 스캐닝을 사용하며 고정밀 선형 인코더 및 드라이브를 사용하여 개별적으로 프로파일 (profile) 데이터 포인트를 캡처하여 세부 기능과 시간을 검사할 수 있습니다. AC 도구는 양식, 황삭, 텍스처 등의 속성을 측정할 수 있는 다양한 광 구성 요소와 고정장치를 제공합니다. MITUTOYO SJ 400 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산은 이미지 및 모션 기술을 사용하여 웨이퍼에서 데이터를 수집합니다. 고정밀 이미지 프로세서는 자동 측정을 가능하게 하는 반면, 4중 선형 테이블 포지셔닝은 정확한 데이터 입수를 보장합니다. 고정밀 인코더로 제어되는 접촉 스타일러스 프로브 (Contact Stylus Probe) 는 웨이퍼의 프로파일을 스캔하여 범프, 갈비뼈 및 기타 피쳐의 높이, 너비, 피치를 정확하게 측정합니다. 스캐닝 데이터를 사용하여 표면 텍스처와 결함을 결정할 수도 있습니다. SJ-400은 또한 자동 데이터 입력, 저장 및 분석을 제공합니다. 통합 소프트웨어는 지표 (Metrics) 와 그래픽 보고서 (Graphical Report) 를 제공하여 트렌드를 쉽게 파악하고 가변성을 정량화할 수 있습니다. 이 모델은 데이터 추세 분석 (Trending) 및 통계 분석 (Statistical Analysis) 기능과 함께 그래픽 디스플레이와 숫자 디스플레이를 모두 사용합니다. 또한 SJ 400은 데이터 변환 및 분석을 위해 타사 소프트웨어와 상호 작용할 수 있습니다. MITUTOYO SJ-400은 다양한 응용 프로그램에 맞게 사용자 정의 할 수있는 모듈 식 장비입니다. 고해상도 현미경, 시각 검사 장치, 레이저 간섭계, 기타 광학 부품이 옵션으로 제공됩니다. "고정밀도 '와" 반복성' 은 반도체· 전자산업 웨이퍼 테스트에 귀중한 도구다. 이 장치는 의료· 치과 응용에도 적합한데, 다양한 구성요소에 대한 정확하고 상세한 검사를 가능하게 하기 때문이다.
아직 리뷰가 없습니다