판매용 중고 MITUTOYO SJ-201 #9245763

MITUTOYO SJ-201 (Wafer Testing and Metrology) 장비는 단일 플랫폼에서 광범위한 반도체 부품 및 재료의 성능을 측정하도록 설계된 Wafer Testing and Metrology 장비입니다. 이 시스템은 웨이퍼 (wafer) 제조업체에 웨이퍼 생산을 모니터링하는 안정적이고 정확한 방법을 제공하도록 특별히 설계되었습니다. 이 장치는 디지털 이미지 처리 (digital image processing) 및 도량형 (metrology) 기술의 최신 발전을 활용하여 각 개별 웨이퍼의 특성을 빠르고 효율적으로 자동으로, 정확하게 측정합니다. SJ-201 기계에는 스캐닝 전자 현미경 단계, 디지털 영상 도구 및 장치 측정 도구가 포함됩니다. 이미징 에셋 (Imaging Asset) 및 디바이스 측정 툴은 직관적으로 설계되었으며, 이를 통해 사용자는 데이터를 실시간으로 신속하게 분석, 저장할 수 있습니다. 모델에는 이러한 측정에서 수집한 데이터를 표시, 미리보기, 저장할 수 있는 기능이 있습니다. MITUTOYO SJ-201 에는 빠른 웨이퍼-웨이퍼 비교를위한 템플릿도 포함되어 있으며 데이터를 PNG 또는 JPG 형식 파일로 내보낼 수 있습니다. 공구의 스캐닝 전자 현미경 단계 (scanning electron microscope stage) 는 나노 미터 해상도까지 측정 할 수 있으므로 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 이 장비에는 또한 정렬, 크기 및 모양 측정, 초점 향상, 밝기 조정 등 다양한 이미징 및 도량형 (metrology) 기능이 장착되어 있습니다. 또한 자동 측정 모드 (automatic measurement mode) 를 통해 사용자가 신속하게 여러 번 측정하고 시간을 대폭 절약할 수 있습니다. SJ-201의 고급 이미징 및 도량형 기능은 웨이퍼 테스트 및 도량형 응용 프로그램에 이상적입니다. WAR (Wafer Production) 를 처음부터 끝까지 모니터링하고 안정적이고 정확한 결과를 제공하는 완벽한 솔루션을 제공합니다. 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 다양한 기능을 통해 이 시스템은 웨이퍼 메이커 (wafer maker) 및 테스트 서비스 모두에 이상적입니다. MITUTOYO SJ-201 장치는 비용 효율적인 솔루션으로, 웨이퍼 (wafer) 생산의 속도와 정확성을 향상시키는 동시에 다운타임, 비용, 운영 오버런을 줄여줍니다.