판매용 중고 MICROTRAC S3500 #9215422
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판매
ID: 9215422
빈티지: 2006
Micron particle counter system
With sample delivery system
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Ranges (Wet, dry)
Basic: 0.7-1000 um, 0.7-1000 um
High: 2.75-2800 um, 2.75-2800 um
Standard : 0.24-1400 um, 0.24-1400 um
Special : 0.086-1400 um , 0.24-1400 um
Extended: 0.021-2000 um, 0.24-2000 um
Enhanced: 0.021-2800 um, 0.24-2800 um
Precision:
CV=0.7%, Spherical glass beads D50: 642 micron
CV=1.0%, Spherical glass beads D50: 56 micron
CV=0.6%, Spherical glass beads D50: 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
Optimal scattered light detection
0.02-163 degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10° C-35°C
Humidity: 90% RH
Storage temperature: -10° C-50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint / Plating
Dry operation:
Maximum pressure: 100 psi
Minimum flow rate: 5 CFM-50 psi
Free of dry contaminants
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Includes:
Computer
Power cord
Cables
Power
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 - 63 Hz
200-265 VAC, 1 Phase 47 63 Hz
Power consumption: 10-30 Seconds
2006 vintage.
MICROTRAC S3500 (MICROTRAC S3500) 은 제조 표준 및 기대치를 충족시키기 위해 반도체 웨이퍼를 분석하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 웨이퍼 도량형 (wafer metrology) 요구 사항을 위해 특별히 개발되었으며, 필요한 모든 테스트를 완료할 수 있는 신뢰할 수 있는 고정밀 솔루션을 제공합니다. MICROTRAC S 3500은 전기적 특성 (예: 전도성, 송신과 같은 광학 특성, 리프트 오프 및 스텝 하이트와 같은 구조 매개변수) 을 포함하여 여러 매개 변수를 감지하는 고급 레이저 스캐닝 기술을 사용합니다. S3500 하드웨어는 효율적이고 안정적인 테스트 프로세스를 지원합니다. 스캐닝 헤드 (scanning head) 와 3축 미러 시스템 (scanning head) 으로 구성되며 최적의 스캐닝 성능 및 각도 해상도에 맞게 조정할 수 있습니다. 이것은 스캐닝 헤드가 이미지를 캡처하기 위한 광학적 목표 (optical objective) 와 필요한 제어 전자 장치 (control electronics) 의 도움이 됩니다. 또한, 이 장치는 수집된 테스트 데이터를 빠르고 정확하게 분석 할 수 있도록 다양한 소프트웨어 기반 모듈 (software-based module) 을 제공합니다. S 3500에는 기본 컨트롤러 장치와 Windows 운영 체제 호환 소프트웨어와 그래픽 사용자 인터페이스가 있습니다. Wafer Testing 프로세스의 속도를 높일 수 있는 최대 측정 범위, 정확도, 반복성 등을 제공하도록 설계되었습니다. 도구는 또한 마스킹 프로세스로 인한 불리한 결과를 피하기 위해 형상 스캔 모듈 (geometry scan module) 과 자동 마스킹 기술 (automated masking technology) 을 갖추고 있습니다. 이렇게 하면 이전 스캔이나 후속 스캔과 직접 비교할 수 있는 정확한 결과가 보장됩니다. MICROTRAC S3500 (MICROTRAC S3500) 도 여러 센서의 데이터를 동시에 수집하여 보다 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 2 차원 및 3 차원 이미징, 스팟 크기 매핑, 임계 차원 (CD) 결정 및 박막 물리적 특성 측정과 같은 강력한 도량형 기능이 포함됩니다. MICROTRAC S 3500은 자동화된 하드웨어/소프트웨어 솔루션 외에도 확장된 서비스/지원 옵션도 제공합니다. 이 자산은 교육 현장, 웹 세미나, 소프트웨어 업데이트, 24/7 핫라인 서비스, 엔지니어링 서비스 계약 (engineering service contract) 과 함께 제공되어 사용자가 모델을 가장 잘 사용할 수 있습니다. 또한, 테스트 결과의 최대 성능 및 정확성을 보장하기 위해 장비가 정기적으로 유지됩니다. 전반적으로, S3500은 비용을 줄이고, 효율성을 높이고, 웨이퍼 품질을 보장하도록 설계된 안정적이고, 사용자에게 친숙한 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 통합 기능 및 품질 보증 (Quality Assurance) 지원을 통해 업종별 웨이퍼 테스트 및 분석에 이상적인 선택이 가능합니다.
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