판매용 중고 MDC ECM 98 PL #293618598

ID: 293618598
빈티지: 2001
Automatic CV plotter Running: 1000 Components/Hour 2001 vintage.
MDC ECM 98 PL은 반도체 장치 품질 제어에 사용하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 플랫폼입니다. 이 기계는 자동화된 일종 측정 및 분석을 제공하며, 다양한 웨이퍼 제품 (MEMS) 에서 고급 로직 (advanced logic) 까지 처리 할 수 있습니다. MDC ECM 98PL 장비는 빠른 처리량을 위해 자동화된 인라인 구성을 제공합니다. 각 레벨당 최대 98 개의 웨이퍼를 관리할 수 있으며, 시스템당 최대 4 개의 레벨을 제공하여 시간당 총 392 개의 웨이퍼를 처리할 수 있습니다. 이 장치는 사진 전자 및 전기 테스트, CD/두께, 응력, 광학 스캐너, 에치 깊이 등 다양한 도량형 측정을 포함한 다양한 테스트 구성을 지원하도록 설계되었습니다. 이 기계에는 여러 개의 테스트 및 도량형 (metrology) 모듈이 포함되어 있어 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다. 단일 및 다중 채널 옵션을 포함하여 다양한 측정 헤드를 제공합니다. 다채널 (Multi-Channel) 측정 헤드는 서로 다른 매개변수를 동시에 측정하여 보다 효율적인 테스트/측정 솔루션을 만들 수 있는 장점을 제공합니다. 이 도구에는 고급 시력 유도 로봇 (vision-guided robot) 이 있으며 테스트용 웨이퍼를 정확하게 찾아 샘플링합니다. ECM 98 PL 자산은 높은 처리량 테스트를 위한 여러 가지 유용한 기능을 제공합니다. 여기에는 작은 결함을 신속하게 감지하고 정확한 분석을 수행 할 수있는 결함 마커 프로그램 (Defect-Marker Program) 과 웨이퍼 제품의 정확한 식별 및 추적을위한 웨이퍼 검증 모델 (Wafer Verification Model) 이 포함됩니다. 또한 데이터 스토리지 유닛 (Data Storage Unit) 은 간편한 스토리지 및 테스트 데이터 검색 기능을 제공하여 사용자가 원하는 정보를 신속하게 찾을 수 있습니다. 이 장비는 또한 테스트 및 도량형 작업을 능률적으로 수행하도록 설계된 고급 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 직관적인 제어 옵션과 더불어 포괄적인 분석 툴과 데이터 해석 (Data Interpretation) 기능을 제공합니다. 이 소프트웨어는 또한 업계에서 인정받는 많은 테스트 프로그램과 호환되며, 추출 알고리즘 (extraction algorithm) 을 통해 강력한 데이터 분석 기능을 제공합니다. 전반적으로, ECM 98PL은 빠르고 안정적인 환경에서 복잡한 테스트를 처리하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 플랫폼을 제공합니다. 포괄적인 하드웨어, 소프트웨어, 분석 툴을 제공하여 포괄적인 테스트 및 도량형 (metrology) 작업을 수행할 수 있습니다. 가장 중요한 것은, 오늘날의 까다로운 반도체 디바이스 품질 보증 작업에 필요한 성능과 정확성을 제공하는 것입니다.
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