판매용 중고 LEO GIKEN ASM-25B #9156513

LEO GIKEN ASM-25B는 정확한 웨이퍼 도량형을 촉진하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 마이크로 4 포인트 프로브 기술을 사용하여 웨이퍼의 전기 특성 (예: 저항, 접촉 영역, 저항 균일성) 을 정확하게 측정합니다. 웨이퍼 (wafer) 에 4 개의 포인트 프로브를 삽입함에 따라, 한 번에 최대 2 인치까지 영역을 스캔 할 수 있으며, 시중의 다른 웨이퍼 테스트 시스템보다 테스트 시간이 빠릅니다. 이 장치는 자체 포함 환경을 특징으로하며, 캐비닛 내에서 제어되는 습도는 50% 이며, 정확한 측정과 반복 가능한 결과를 제공합니다. 시험 할 재료 는 시편지 에 장착 될 수 있으며, 그 다음 에는 조정 가능 한 속도 로 초속 5 "밀리미터 '내지 100" 밀리미터' 로 검사 할 수 있다. ASM-25B 테스트 단계는 측정이 이루어지고 실시간 분석을위한 통합 메커니즘 (integrated mechanism) 을 통해 즉시 제시됨에 따라 최소 연산자 참여가 필요합니다. 시스템에 대한 데이터 수집은 jpg, bmp, gif 및 tif와 같은 다양한 형식으로 이루어집니다. 웨이퍼 테스트 및 도량형이 수행되면, 전기 특성 측면에서, 전류, 전압 및 저항의 출력이 도구에 의해 렌더링 및 측정됩니다. 레오 지켄 ASM-25B (LEO GIKEN ASM-25B) 는 또한 섬세한 웨이퍼를 테스트 할 때 부드러운 터치를 제공하는 공기 쿠션 메커니즘과 같은 다양한 다른 기능을 제공합니다. 또한, 테스트 중 진동을 방지하기 위해 웨이퍼 홀더를 장착 할 수 있습니다. IP65 보호 키보드/모니터는 사용자에게 친숙한 자산의 특징을 강화합니다. 즉, 이 기능을 통해 거의 모든 환경에서 모델을 긍정적으로 사용할 수 있습니다. 전반적으로 ASM-25B는 정확도, 신뢰성 및 실용성을 결합하여 웨이퍼 도량형의 최첨단 결과를 제공합니다. 장비가 제공하는 정확하고 빠른 측정으로 인해 모든 실험실 또는 반도체 생산 라인 (production line) 에 이상적인 선택이 됩니다.