판매용 중고 LEHIGHTON 1510C-RP #293608868

LEHIGHTON 1510C-RP 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 웨이퍼 처리 및 검사에 사용하도록 설계된 고정밀 도량형 도구입니다. 이 시스템은 제조업체와 테스터가 다양한 웨이퍼 (wafer) 특성을 분석, 측정하고 오염과 결함을 감지할 수 있도록 합니다. 1510C-RP는 모든 유형의 반도체 웨이퍼 (직경 300mm) 의 물리적 특성, 전기적 특성, 광학적 특성을 정확하게 검사하고 분석 할 수있는 완전 자동 독립형 장치입니다. 그것 은 여러 가지 특수 "센서 '와 광학 현미경 을" 데이터' 습득기 와 결합 시켜, 작동 자 의 개입 을 필요 없이 "웨이퍼 '의 여러 가지 특성 을 신속 하고 정확 하게 측정 한다. LEHIGHTON 1510C-RP는 Silicon Oxide, Silicon Nitride, Silicon Carbide, Oxygen-doped Polysilicon 및 Heavy Metal Silicon Oxide와 같은 다양한 웨이퍼 프로브 및 기판 재료를 지원합니다. 또한 다양한 결함 및 오염 물질 (예: 입자, 잔류, 오염, 결함 등) 을 감지하도록 도구를 구성할 수 있습니다. 즉, 고품질 결과를 보장하고 추가 처리를 위해 웨이퍼가 안전하게 보호됩니다. 또한 1510C-RP 는 비파괴/파괴적인 테스트, 다양한 장애 분석 기술 등 다양한 테스트 모드를 지원합니다. LEHIGHTON 1510C-RP에는 두 개의 독립적이고 교환 가능한 플랫폼이 있습니다. 하나는 검사용이고 다른 하나는 특성화용입니다. 검사 플랫폼은 초점 높이 (focus height) 및 중요 치수 측정 (critical dimension measurements) 과 같은 가장 기초적이고 중요한 테스트 작업을 수행하는 반면, 특성 플랫폼은 커패시턴스 측정 (capacitance measurements) 및 캐리어 이동성 테스트 (carrier mobility testing) 와 같은 더 전문화된 테스트를 실행합니다. 이를 통해 사용자는 애플리케이션의 특정 요구에 맞게 자산을 구성하고 유연하게 조정할 수 있습니다 (영문). 또한 1510C-RP 는 자동 웨이퍼 처리, 무중단 업무 운영 검사, 데이터 수집 자동화, 원격 액세스 제어 등 다양한 기능을 통해 테스트/도량형 프로세스를 간소화할 수 있습니다. 이를 통해 전반적인 테스트 시간을 줄이고 정확도를 높일 수 있습니다. LEHIGHTON 1510C-RP는 신뢰할 수 있는 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델을 찾는 제조업체, 테스터, 연구원을위한 완벽한 솔루션입니다. 광범위한 기능과 다기능 (Multi-Functional) 기능은 기본 웨이퍼 검사 (Wafer Inspection) 및 복잡한 분석 작업 모두에 이상적인 플랫폼을 제공합니다. 게다가, 비용 효율성과 단순한 운영은 실험실과 생산 시설 모두에게 매력적인 선택입니다.