판매용 중고 LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-C #9280300

LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-C는 대용량 생산 환경을 위해 설계된 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 제품은 품질 보증 (Quality Assurance) 과 고정밀도, 복잡한 테스트 솔루션에 모두 적합한 솔루션입니다. LCP80N-C에는 다양한 고급 테스트 및 도량형 도구가 장착되어 있습니다. 주요 구성 요소는 반도체 웨이퍼 (wafer) 의 다양한 매개변수를 측정하기 위해 설계되었으며 반도체 고장 분석, 프로세스 및 장치 특성, 제품 성능 테스트 (performance testing) 등 다양한 어플리케이션을 위해 죽습니다. 이 시스템에는 고감도 매개변수를위한 고정밀 3D Scanning Electron Microscope (SEM) 및 Digital Probe Station (DPT) 과 공간 해상도 및 지형을위한 고밀도 POM (Programmable Optics Microscope) 이 포함됩니다. 또한, 이 장치에는 다양한 소프트웨어 모듈 (software module) 이 장착되어 있어 종합적인 데이터 세트를 생성하기 위한 다양한 wafer testing (웨이퍼 테스트) 을 통합할 수 있습니다. LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-C는 뛰어난 정확성과 반복성으로 광범위한 비 파괴 테스트 및 측정을 수행 할 수 있습니다. 전류 (current flow), 커패시턴스 (capacitance), 저항 (resistivity), 접촉 저항 (contact resistance) 과 같은 전기 매개변수와 두께, 결정 결함, 단계 높이, 선 너비 등의 구조 매개변수를 측정할 수 있습니다. 또한 유연하고 자동화된 데이터 분석 기능도 제공합니다. LCP80N-C 는 소프트웨어 모듈 조합을 사용하여 타겟 (target) 영역에서 측정된 모든 이상을 신속하게 감지하고 이러한 장애의 잠재적 원인을 파악할 수 있습니다. 전반적으로 LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-C는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 강력한 도구입니다. 첨단 구성요소 및 소프트웨어 모듈은 정확도 (Accuracy) 와 속도 (Speed) 간의 균형을 잘 유지해 주므로 테스트 및 도량형 구성을 최대한 활용할 수 있습니다. 이 툴을 활용하여, 고객은 최종 결과를 확신할 수 있으며, 자사 제품의 품질이 최우선 (top-notch) 임을 확신할 수 있습니다.