판매용 중고 KYOWA K-750RM #9230478

KYOWA K-750RM은 차세대 웨이퍼 생산 프로세스의 요구를 충족시키기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 웨이퍼 도량형 시스템은 3 축 각각에 대해 최대 1 nm (1nm) 의 해상도를 갖추고 있으며, 정적 (static), 동적 (dynamic), 구조적 (structural) 기능을 정확하게 측정하여 비교할 수없는 정확도로 종합적인 분석을 가능하게 합니다. 이 장치는 6 축 로봇 암, 3 축 레이저 스캐닝 모듈, 평면 및 곡선 물체를 모두 측정하기위한 광학 현미경 (optical microscope) 을 갖춘 고성능 컨트롤러에서 실행됩니다. K-750RM 은 고급 소프트웨어 알고리즘을 사용하여 시스템의 원시 데이터를 빠르고 효율적으로 처리하므로 품질, 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 웨이퍼 테스터 (wafer tester) 는 세라믹, 유리, 폴리머 (polymer) 와 같은 단단하고 부드러운 재료를 포함한 다양한 재료에서 다양한 도량형 작업을 수행 할 수 있습니다. 이 도구는 정확하고 반복 가능한 결과를 얻기 위해 3D 광 간섭법 (Optical Interferometry) 과 백광 간섭법 스캔 (Scanning White-light interferometry) 의 조합을 사용하여 가장 까다로운 응용 프로그램에 고성능 데이터를 제공합니다. 교와 K-750RM (KYOWA K-750RM) 은 또한 웨이퍼 표면에 대한 공정의 영향을 시뮬레이션하는 공정, 진동, 온도, 환경 오염 물질 등 요인의 영향을 조사하는 공정 등 3 차원 표면 형태를 연구하기위한 일련의 도구를 제공합니다.. 에셋은 또한 동일한 작업에서 여러 피쳐를 측정하기 위해 여러 공구 헤드를 수용할 수 있습니다. K-750RM의 다른 표준 기능으로는 데이터 전송을 위한 aPCI Express 인터페이스, 소음 간섭을 최소화하기위한 진동 격리 플레이트, 최대 속도 8m/s의 피쳐 점을 찾기 위한 고급 스캐닝 모델이 있습니다. 이 장비는 또한 고유한 데이터 로깅 (data-logging) 기능을 통해 사용자가 측정 및 테스트 프로세스를 최적화하기 위해 와퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 데이터를 처음부터 끝까지 추적할 수 있습니다. 전체적으로 KYOWA K-750RM은 가장 까다롭고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 애플리케이션에 필수적인 도구입니다. 이 시스템은 최고의 정확도, 신뢰성, 그리고 다양한 재료를 처리할 수 있는 유연성 (Flexibility) 을 제공합니다. 이 장치는 탁월한 정확성과 생산성을 제공하므로, 품질 (Quality) 을 보장하고 비용이 많이 드는 오류의 위험을 줄일 수 있습니다.