판매용 중고 KOKUSAI VR-120S #9148338

KOKUSAI VR-120S는 고급 기술 노드 웨이퍼 테스트 및 특성을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 파괴적이지 않은 비접촉 레이저 스캐닝 광학 프로파일로미터 (optical profilometer) 를 갖추고 있으며, 이 프로파일로미터는 웨이퍼 표면의 고해상도 3D 이미지를 가져와 웨이퍼 지형, 포인트 높이 변형, 글로벌 러프 등과 같은 중요한 웨이퍼 매개변수의 측정을 자동화합니다. 이 장치는 다양한 스캐닝 필드 크기 (scanning field size) 와 고해상도 프로파일 (high-resolution profile) 을 제공하여 특정 요구에 맞게 시스템을 조정할 수 있습니다. 이 도구는 또한 표준 스테이지에 비해 용량이 최대 8 배 증가하도록 설계된 독특한 반전 프레임 스테이지 (Inverted Frame Stage) 를 갖추고 있습니다. 이를 통해 자산은 한 번에 스테이지에 더 많은 웨이퍼 (wafer) 를 장착할 수 있으며, 웨이퍼 테스트와 특성화의 처리량 및 효율성을 높일 수 있습니다. 이 모델은 또한 실시간 3D 이미징 기능과 웨이퍼의 다양한 나노 스케일 (nanoscale) 특성에 대한 심층적 분석을 통해 상세한 도량형 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 KOKUSAI VR120S (Automated Wafer Handling) 장비는 운영자 개입없이 웨이퍼를 한 프로세스에서 다음 프로세스로 빠르게 이동할 수 있으며, 웨이퍼 테스트 및 특성화와 관련된 시간과 비용을 크게 줄일 수 있습니다. 이 시스템은 스테이지 (stage) 및 이미징 장치 (Imaging Unit) 와 통합되어 다양한 프로세스와 절차에 대해 빠르고 정확하게 웨이퍼를 찾을 수 있습니다. VR 120 S 에는 시스템 제어, 이미지 처리, 데이터를 실시간으로 해석할 수 있는 고급 소프트웨어 패키지도 포함되어 있습니다 (영문). VR-120S (VR-12S) 는 혁신적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 툴로, 사용자에게 고급 기술 노드 웨이퍼에 대한 실행 가능한 통찰력을 제공할 수 있습니다. 고해상도 이미징 및 도량형 (metrology) 기능, 자동화된 웨이퍼 처리 자산, 직관적인 소프트웨어 패키지로, VR-120 S는 웨이퍼 (wafer) 의 속성을 빠르고 정확하게 평가하고, 시간 및 비용을 절감하는 데 이상적인 솔루션입니다.