판매용 중고 KOBELCO / LEO SBW / LBW #293642522

KOBELCO/LEO SBW/LBW는 고해상도 저전력 마이크로 전자 장치를 생산하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 레이저 기반 스캐닝 기법 (Scanning Technique) 을 기반으로 테스트중인 장치의 물리적 특성에 대한 극도로 정확한 측정과 장치 제조 공정으로 인한 왜곡 (distortion) 을 소프트웨어 기반으로 수정합니다. 이 장치는 고성능, 고해상도 스캐닝 플랫폼과 다양한 측정 소프트웨어/하드웨어 옵션을 결합하여 wafer testing (웨이퍼 테스트) 및 metrology setup (도량형 설정) 을 정확한 연구 및 생산 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. LEO SBW/LBW 는 고급 레이저 스캐닝 기능을 제공하여, 광범위한 매개변수에 걸쳐 전체 디바이스를 자동으로 매핑할 수 있습니다. 비접촉 (non-contact) 및 비파괴 (non-destructive) 스캐닝은 다양한 유형의 적외선 및 광학 이미징을 포함하여 다양한 이미지 처리 옵션을 제공합니다. 또한, 이 시스템은 광범위한 관련 소프트웨어를 제공하여 데이터 수집, 분석, 보고 작업을 자동화할 수 있습니다. 고급 소프트웨어 인터페이스 (Advanced Software Interface) 를 사용하면 추가 센서 및 신호의 통합을 포함하여 웨이퍼 매핑 및 도량형 프로세스를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 이 툴은 하이엔드 운영 환경을 위해 설계되었으며, 측정 결과의 정확성과 더불어 빠르고 정확한 테스트 프로그래밍을 보장합니다 (영문). 또한, 이 자산은 신뢰성 테스트 및 분석 (analysis) 을 위한 다양한 기능을 제공하여 사용자는 프로세스를 더욱 효율적으로 관리하고 TCO (소유 비용) 를 절감할 수 있습니다. 이 모델은 독립형 및 네트워크 기반 접속을 모두 지원하므로 여러 장치를 동시에 연결할 수 있습니다. 또한 테스트 프로세스에 대한 원격 모니터링을 지원하므로 디바이스 관련 문제를 빠르고 쉽게 파악할 수 있습니다 (영문). 코벨코 (KOBELCO) SBW/LBW는 대학· 연구시설· 산업제조업체 등 다양한 종류와 규모를 갖춘 사용자에게 다양한 이점을 제공한다. 안정성, 정확성, 유연성은 마이크로 일렉트로닉 장치를 설계, 테스트 및 최적화하는 데 이상적인 솔루션이 됩니다.