판매용 중고 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9364393

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B는 반도체 장치 제조 전문가를 위해 설계된 고성능 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 정밀도 (precision optics), 고급 알고리즘 (advanced algorithms), 자동화된 동작 제어 (automated motion control) 를 통합하여 반도체 웨이퍼의 라인 간격, 피쳐 크기, 라인 에지 거칠기 등의 중요한 회로 기능을 측정할 수 있는 최고 수준의 정확성을 보장합니다. KLA OPTIPROBE 2600B는 STM (Scanning Tunneling Microscopy) 기술의 최신 발전을 활용하여 더 높은 정밀 측정에 대한 수요 증가를 충족하도록 설계되었습니다. TENCOR OPTIPROBE 2600B는 자동 기능의 배열을 사용하여 일상적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 작업을 관리합니다. 표준 CMOS 웨이퍼를 최대 10cm (4 인치) 크기로 스캔하고 정확한 지형 데이터를 캡처하여 기능 전환 규칙을 정확하게 확인할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 다양한 기능과 특성의 정확한 식별 및 정량화를 위해 PCA (Principal Component Analysis) 와 같은 여러 가지 고급 알고리즘을 지원합니다. 이 장치에는 또한 집적 광학 현미경이 포함되어 있으며, 이를 통해 집적 회로의 개별 계층의 정량적 (quantitative) 및 비파괴적 (non-destructive) 측정이 가능합니다. OPTIPROBE 2600B (OPTIPROBE 2600B) 는 동작 제어의 최신 발전을 통합하여, 매우 빠른 스캐닝 및 테스트 기능과 광범위한 측정 구성을 제공합니다. 고속 스캐닝 (Scanning) 기술과 고급 옵틱 (Optic) 의 조합을 활용하여 정확한 해상도와 최소한의 드리프트를 제공합니다. 기계는 자동으로 빔 (beam) 을 정렬하고 장치 동작의 미묘한 변화, 온도 변화 등을 감지하여 고온 테스트 (high-temperature testing) 환경에서 사용할 수 있습니다. 고성능 테스트 및 도량형 기능 외에도 THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B는 다양한 사용자 친화적 기능을 제공합니다. 대형 터치스크린 (touch-screen) 인터페이스가 장착되어 있어 사용자가 쉽게 사양을 입력하고 데이터를 검사할 수 있습니다. 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 운영자는 신속하게 테스트를 시작, 사용자 정의 및 수행 할 수 있습니다. 또한 보호 케이스 (Protection Enclosure), 비상 정지 버튼 (Emergency Stop Button), 가청 경보 (Audible Alarm) 등 다양한 안전 기능이 통합되어 추가 보안 계층을 제공합니다. KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B는 웨이퍼 테스트 및 도량형에서 탁월한 정확성과 안전성을 추구하는 반도체 장치 제조 전문가에게 이상적인 솔루션입니다. KLA OPTIPROBE 2600B는 고급 옵틱 (Optic), 자동 모션 제어 (Automated Motion Control) 및 다양한 측정 기능을 통해 반도체 장치의 최고 품질을 보장하는 귀중한 도구입니다.