판매용 중고 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE 18-016170 #293751425

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE 18-016170은 반도체 웨이퍼에 대한 박막 특성 및 재료 특성을 측정하는 데 높은 정확성과 정확성을 위해 반도체 산업의 요구를 충족하도록 설계된 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 최첨단 시스템은 고급 광학/열 (optical/thermal) 기술을 결합하여 최신 반도체 장치의 품질과 성능을 보장하는 데 필수적인 포괄적인 웨이퍼 (wafer) 분석 기능을 제공합니다. KLA 18-016170 (KLA 18-016170) 장치에는 다양한 고급 기능과 기능이 장착되어 있어 반도체 웨이퍼에 박막 (thin film) 의 특성을 특성화하는 강력한 도구입니다. 이 기계는 분광 타원계, 반사 측정 및 적외선 측정의 조합을 사용하여 필름 두께, 굴절률, 광학 상수 (높은 정밀도 및 해상도) 와 같은 중요한 매개변수를 정확하게 결정합니다. TENCOR 18-016170 도구의 주요 강점 중 하나는 실리콘, 화합물 반도체, 금속, 유전체 등 다양한 물질에서 비파괴적, 무접촉적 측정을 수행 할 수있는 능력입니다. 이러한 유연성을 통해 반도체 업계의 다양한 애플리케이션 (프로세스 개발, 최적화, 품질 관리, 장애 분석 등) 에 적합한 자산을 확보할 수 있습니다. 이 모델의 고급 소프트웨어 알고리즘 (Advanced Software Algorithms) 과 데이터 분석 도구 (Data Analysis Tools) 를 사용하면 측정 데이터에서 귀중한 정보를 추출할 수 있으므로 박막 (Thin film) 의 특성과 잠재적 프로세스 문제 또는 결함의 식별을 상세하게 특성화할 수 있습니다. 이 장비는 또한 맞춤형 측정 레시피, 자동화된 데이터 획득 기능, 측정 프로세스 간소화, 웨이퍼 분석 워크플로우 (wafer analysis workflow) 의 생산성 향상 등을 제공합니다. THERMA-WAVE 18-016170 시스템에는 웨이퍼 지형 (wafer topography), 표면 거칠기 (surface roughness) 및 반도체 처리를 최적화하고 최종 반도체 장치의 품질을 보장하는 데 필수적인 기타 중요한 매개변수의 특성화가 가능한 고급 도량형 기능이 있습니다. 전체적으로, 18-016170 장치는 반도체 산업의 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 이 기계는 고급 광학/열 측정 기술, 강력한 데이터 분석 기능, 유연한 측정 구성 등을 통해 반도체 제조업체에 반도체 소자 제조에서 최고 수준의 품질 제어 (Quality Control) 및 프로세스 최적화 (Process Optimization) 를 실현하는 포괄적인 도구를 제공합니다.