판매용 중고 KLA / TENCOR SFX 100 #9244868
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KLA/TENCOR SFX 100은 반도체 업계가 자재를 더 잘 이해하도록 돕기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 시스템의 기능은 다음과 같습니다. 1. 총 굴절률 (TRI) 측정: 이것은 반도체 재료의 굴절률에 대한 전반적인 아이디어를 허용하며 갈륨 비소 (GaAs), 인듐 갈륨 비소 (InGaAs) 및 인듐 인화물 (InP) 의 측정을 위해 특별히 설계되었습니다. 2. PL (Photoluminescence) 측정: 이 측정은 웨이퍼의 전자 구조와 에너지 풍경에 대한 통찰력을 제공하며, 양자 감금 (Quantum Capinement) 및 밴드 간격 좁히기와 같은 물리적 현상을 이해하는 데 사용될 수 있습니다. 3. 라만 분광법 (Raman spectroscopy): 반도체의 결정 구조와 재료의 포논 모드에 대한 정보를 제공합니다. 또한, 분자 수준에서 필름 성장을 모니터링하는 데 사용될 수 있습니다. 4. 오염 및 변형 모니터링: KLA SFX 100은 웨이퍼에 대한 변형, 오염 또는 입자 오염으로 인한 다양한 결함을 측정하여 반도체 구조를 쉽게 특성화합니다. 5. 이미지 처리 (Image processing): 이 장치는 또한 이미지 데이터를 수집할 수 있으며, 이는 반도체 표면의 결함을 분석하고, 임계 치수와 피쳐 크기를 측정하고, 웨이퍼의 전기 특성을 연구하는 데 유용합니다. TENCOR SFX 100은 빠른 속도의 반도체 산업에 이상적인 기계입니다. 자동화된 (automated) 모드로 작동하도록 설계되었으며, 빠르고 효율적인 방법으로 상세하고 정확한 결과를 제공합니다. 이는 업계가 고객의 까다로운 요구 사항에 부응할 수 있도록 하는 데 도움이 됩니다 (영문). 고급 (advanced) 기능 외에도, 이 툴은 사용자에게 친숙한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공하여 데이터 분석 프로세스를 보다 쉽게 운영할 수 있습니다. 전반적으로 SFX 100은 반도체 테스트 및 도량형을위한 강력한 도구입니다. 정확하고 신뢰할 수 있는 데이터를 신속하고, 거의 필요없이 제공할 수 있어 업계 전문가에게 적합합니다 (영문). 이 자산은 또한 다양한 고급 기능을 갖추고 있으며, 유기 (organic) 및 무기 (organic) 반도체 재료를 모두 측정 할 수 있습니다. 이는 수많은 유연성을 제공하며, 수작업 (manual measurements) 보다 비용 효율성이 높아 산업용 (industrial) 과 연구용 (Research) 환경 모두에 완벽한 도구입니다.
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