판매용 중고 KLA / TENCOR SFS 7700 #9134040

KLA/TENCOR SFS 7700은 고정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 뛰어난 정확도, 속도, 신뢰성을 제공하여 고급 장치 특성화에 대한 일관된 웨이퍼 수준의 결과를 제공합니다. 단일 테스트 스테이션에서 박막 및 굵은 필름 웨이퍼에 대한 다양한 매개 변수를 측정하는 KLA SFS 7700 (KLA SFS 7700) 의 기능으로 인해 처리량이 증가하고 생산량이 향상됩니다. TENCOR SFS 7700 은 Wafer Testing 및 Metrology 애플리케이션을 위해 특별히 설계된 독점적이고 밀접하게 통합된 소프트웨어 패키지로 구동됩니다. 고급 (Advanced) Wafer 를 분석하고 고급 (Advanced) 소프트웨어 모듈의 향상된 기능을 통해 Wafer 성능 및 안정성의 작은 변형을 신속하게 파악하고 운영 프로세스를 최적화하여 데이터를 활용할 수 있습니다. SFS 7700 의 다양한 wafer parameters in situ 기능을 정확하게 측정하면 다른 테스트 및 metrology 시스템에 비해 높은 처리량, 저렴한 가격, 향상된 처리량으로 정확한 wafer 및 디바이스 수준 데이터를 신속하게 캡처할 수 있습니다. 고급 AIM (Automated Inspection Management) 시스템을 통해 사용자는 최대 10 개의 레시피를 설정하고 자동으로 저장하여 간편하게 리콜 및 자동화할 수 있습니다. KLA/TENCOR SFS 7700은 복잡하지 않고 직관적인 작업을 통해 경쟁력 있는 가격으로 혁신적인 성능을 제공하여, 반복 가능한 결과를 더욱 신속하게 시동할 수 있습니다. 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 장치는 사용자가 조작하기 쉬운 턴키 작동을 위해 다양한 자동 기능을 제공합니다. 또한, 이 기계는 구성 가능한 클래스 최고의 Contour Analysis 기능을 제공하여 나노 스케일 기능을 정확도 5nm (5nm) 로 측정할 수 있습니다. KLA SFS 7700 은 Wafer 테스트 및 도량형 (Metrology) 에 대한 업계 표준을 강화되고 통합된 인프라로 재정의하여, 사용자에게 전례없는 수준의 제어, 유연성 및 정확성을 제공합니다. 데이터 수집 기능 향상, 병렬 처리 기능 향상, 스케줄 지정 최적화 기능 향상 등, 사용자는 정확한 정확성, 문제의 근본 원인을 정확히 파악할 수 있는 능력을 갖추게 되었습니다.