판매용 중고 KLA / TENCOR SFS 7700 #170115

KLA/TENCOR SFS 7700은 반도체 제조를 위해 설계된 통합 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 광/전기 측정 도구, 고급 소프트웨어 (Advanced Software), 다양한 고객별 애플리케이션에 대한 구성 등 다양한 제품군으로 구성되어 있습니다. 이 장치의 광학 부분에는 이미징 및 표면 검사를위한 SEM (Scanning Electron Microscope), x-ray 또는 자외선 이미지를 촬영하기위한 광학 검사 현미경 및 웨이퍼 샘플의 매핑 및 이미징 결함 맵을위한 웨이퍼 매핑 머신 (wafer mapping machine) 이 포함됩니다. KLA SFS 7700의 전기 부분은 접촉 프로브 (contact probe), 벅 컨버터 (buck converter) 및 전류 소스로 구성되어 다른 전압과 온도에서 여러 장치의 전기 매개변수를 측정합니다. 이러한 전기 측정을 통해 사용자는 반도체 부품 및 장치의 성능을 평가하기 위해 전압, 저항, 전류, 커패시턴스, 유사 매개변수를 측정 할 수 있습니다. TENCOR SFS 7700 의 정교한 소프트웨어 제품군은 사용자가 이러한 기기에서 수집한 데이터를 계산, 저장, 분석할 수 있도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어에서는 Wafer 의 결함을 찾아서, 식별하고, 보고하고, Wafer 의 생산/수신 정보를 추적할 수 있습니다. 또한, 사용자는 자신의 사용자 지정 매크로 명령을 구성하여 데이터 관리 작업을 단순화할 수 있습니다. 또한 SFS 7700 은 wafer 결함 평가, 프로세스 모니터링, 항복 분석, 데이터 보고 등의 특정 작업을 수행하도록 구성할 수 있습니다. Automated Front End Defect 매핑, Automated Fault Finding and Diagnosis, 사용자 친화적 그래픽 사용자 인터페이스, Traceability and Traceability 지원 등 다양한 기능을 제공합니다. 전반적으로 KLA/TENCOR SFS 7700은 강력하고 포괄적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구입니다. 반도체 (반도체) 부품과 기기에 대한 정제되고 정확한 측정값을 제공할 수 있으며, 소비자가 사용할 수 있는 제품 품질을 높일 수 있도록 도와준다 (영문).