판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9286952

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE 장비는 반도체 웨이퍼의 빠르고 정확하고 자동 검사 및 분석을 제공하기 위해 설계된 Art wafer Testing 및 Metrology 시스템의 상태입니다. 울트라 바이올렛 (Ultra-Violet) 에서 근적외선 (Near-Infrared) 까지 광범위한 파장에서 원자 특성을 감지하고 측정 할 수있는 고급 분광계를 사용합니다. 디지털 신호 처리 알고리즘과 고급 광학 (optics) 을 활용하여 디지털 웨이퍼 이미지의 최고 정확도를 보장합니다. 또한, 웨이퍼 생산 테스트의 여러 기능과 가장 고급 도량형 기능을 결합합니다. KLA UV-1250SE 장치에는 WIS (Wafer Inspection Machine) 와 측정 도구의 두 가지 주요 구성 요소가 있습니다. WIS는 이미징 (Imaging) 분광기와 첨단 분석 기술을 결합한 자동적이고 신속한 사전 검사 및 분석 (Pre-Inspection and Analysis) 을 수행하도록 설계되었습니다. 특수 분광계는 광범위한 파장 범위를 제공하여 결함 구조, 서피스 이상 (surface abnormalities) 및 기타 복잡한 기능에 대한 고해상도 분석을 허용합니다. 또한, 자산은 자동 입자 및 피쳐 식별이 가능하며, 웨이퍼 테스트 결과를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 측정 모델 (Measurement Model) 은 가장 정확한 웨이퍼 테스트 결과를 제공하도록 설계되어 정확도가 높은 안정적인 데이터를 생성합니다. 여기에는 직접 샘플 모니터링을 위해 매우 민감한 위치 감지 장치를 사용하는 HPMS (High Precision Multi-Sensor) 구성 요소가 포함되어 있어 정확한 도량형 측정이 가능합니다. 이 장치는 정확한 멀티 센서 데이터 획득 및 분석을 위해 다양한 디지털 신호 처리 (digital signal processing) 알고리즘과 쌍을 이룹니다. 이러한 알고리즘은 광학 측정과 함께 작동하여 복잡성을 최대 감도 (sensitivity) 할 수 있습니다. TENCOR UV 1250 SE 장비는 또한 다양한 데이터 획득 및 분석 옵션을 제공합니다. 여기에는 직접 데이터베이스 스토리지, 자동 보고서 생성 및 데이터 전송이 포함됩니다. 보고서를 시스템에서 직접 인쇄하거나 다양한 타사 소프트웨어 솔루션 (예: Microsoft Excel®) 으로 내보낼 수 있습니다. 또한, 이 장치는 여러 웨이퍼 생산 시스템 (wafer production system) 과도 호환되므로 효율적인 분석 프로세스가 가능합니다. KLA/TENCOR/PROMETRIX UV-1250SE Machine은 신뢰할 수 있고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구로서, 반도체 웨이퍼 검사 및 분석을 위한 고유한 솔루션을 제공합니다. 고급 분광계 (Spectrometer) 및 디지털 신호 처리 (Digital Signal Processing) 알고리즘을 통해 높은 정밀도 데이터 획득 및 분석을 제공합니다. 또한 다양한 옵션을 통해 데이터를 효율적으로 수집하고 보고서를 작성할 수 있으며, 타사 소프트웨어 솔루션, Wafer 운영 시스템과의 호환성을 제공합니다. PROMETRIX UV-1250SE 자산 (PROMETRIX UV-1250SE Asset) 은 웨이퍼 테스트 및 도량형을 위한 빠르고, 안정적이며, 정확한 솔루션을 원하는 반도체 기업을 위한 완벽한 솔루션입니다.