판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250 #9284318

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250 장비는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 고급 도구입니다. 최신 광학· 전자기술 (Optical· Electronics) 을 결합해 반도체 애플리케이션에 도전하는 종합적인 분석 솔루션을 제공한다. KLA UV 1250은 전체 웨이퍼를 한 번에 검사 할 수있는 전체 현장 광학 도량형 시스템입니다. 고해상도 백라이트형 CCD 카메라를 활용하면 샘플의 1 차원 및 2 차원 이미지를 모두 캡처하여 나노 미터 수준에서 정확한 분석을 제공합니다. 또한 3 차원 Z축 이미징 및 신뢰할 수있는 위상 이동 측정 기능과 잠재적 입자 결함을 사용자에게 경고하는 데 사용할 수있는 3D 입자 감지 기계 (3D Particle Detection Machine) 를 갖추고 있습니다. 이 도구에는 고급 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형이 가능하도록 다양한 추가 기능이 포함되어 있습니다. 그레이 스케일 패턴 인식, 크리티컬 결함 감지, 오버레이 분석, 장애 분석 등 다양한 자동 알고리즘을 갖추고 있습니다. KLA 소프트웨어가 통합되어 있으므로, 일상적인 작업과 제품별 테스트를 자동화하여 테스트 시간을 줄이고 처리량을 늘릴 수 있습니다. TENCOR UV 1250은 웨이퍼 테스트 및 도량형 이외에도 범용 이미징 (general-purpose imaging) 및 광학 자산 검사 (optical asset inspection) 와 같은 다른 응용 프로그램에도 다양합니다. 이 모델은 정확한 픽셀 해상도와 왜곡이나 아티팩트없이 풀 사이즈 사진 (full-size photo) 을 사용하여 샘플의 상세한 메가 픽셀 이미지를 입수, 분석, 저장할 수 있습니다. 또한 효율적인 인터페이스를 통해 신속한 데이터 수집 및 대화식 피드백 (Interactive feedback) 을 실현하고, 다른 자동 테스트 시스템과 통합할 수 있습니다. 이러한 기능을 결합하여 UV 1250을 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 필수 도구로 만듭니다. 정밀도 (Precision Accurity) 와 다양한 기능을 통해 반도체 애플리케이션에 도전하는 상세한 이미지를 얻을 수 있으며, 자동화된 알고리즘과 통합 소프트웨어 (Integrated Software) 는 모든 샘플의 효율적이고 효과적인 분석을 보장합니다. 이 장비의 다양성은 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 에서 범용 이미징 (general-purpose imaging) 에 이르기까지 수많은 애플리케이션에 적합하므로 반도체 관련 요구 사항을 충족하는 최고의 솔루션 중 하나입니다.