판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-35E Omnimap #9187374

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-35E Omnimap은 반도체 생산 및 제작에 사용하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 웨이퍼 표면 지형을 빠르고, 정확하고, 포괄적으로 분석 할 수 있습니다. 이 장치에는 자동 초점 이미징 머신과 자동 3D 측정, 고해상도 이미징 기능이 있습니다. KLA RS-35E Omnimap은 스테이지, 광학 도구 및 자산 컨트롤러의 세 가지 구성 요소로 구성됩니다. 이 모델은 스캐닝 단계 (scanning stage) 가 크고 설치 공간이 작아 운영 라인 테스트에 이상적인 제품입니다. 스테이지 (stage) 에는 동력 구동 장비가 있으며, 다양한 속도로 정확한 선형 속도로 플랫 웨이퍼 (flat wafer) 를 스캔 할 수 있습니다. 이 시스템은 최적의 성능과 정확성을 위해 공기 베어링 (air bearing) 과 차등 스테이지 드라이브 (differential stage drive) 의 조합을 사용합니다. 광학 장치는 aspherical 기능의 자동 표면 매핑을 가능하게 하는 고해상도 3D 초점 이미징 헤드 (high-resolution 3D confocal imaging head) 로 구성됩니다. 특허를 획득한 고해상도 레이저 자동 초점 머신 (autofocus machine) 을 사용하여 표면 측정에서 가장 정밀하고 정확성을 보장합니다. 디지털 이미징 도구 (Digital Imaging Tool) 는 4k 픽셀 해상도의 고해상도 광학 이미징을 제공하여, 표면 토폴로지를 상세하게 시각화하고 분석할 수 있는 기능을 제공합니다. 마지막으로, TENCOR RS-35E Omnimap에는 그래픽 사용자 인터페이스와 강력한 소프트웨어를 갖춘 사용자 친화적 인 자산 컨트롤러가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어에는 여러 3D 측정을 위한 기능과 데이터 시각화, 분석, 보고 툴이 포함되어 있습니다. PROMETRIX RS-35E Omnimap은 웨이퍼 표면 지형을 안정적이고 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 자동화된 3D 측정과 고해상도 이미징을 통해 고급 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 도량형에 적합합니다. 이 모델은 반도체 생산 및 제작에 적합하며, 표면 측정 (surface measurements) 에서 가장 정밀하고 정확성을 보장합니다.