판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9151984

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H는 정밀 조사, 도량형 및 기타 응용 프로그램을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 높은 정확성, 반복성, 그리고 고급 wafer 테스트 자동화 기능을 제공합니다. KLA P-20H는 진공 웨이퍼 처리 기술뿐만 아니라 로드/언로드 로봇을 사용하는 이중 헤드 도량형 및 테스트 장치입니다. Intel Core 프로세서, Windows 10 Pro 운영 체제, 간편한 작동을 위한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 갖춘 범용 컴퓨터로 구동됩니다. 이 툴에는 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 도량형 프로세스 (Metrology process) 를 통해 생성되는 다양한 유형의 신호를 측정 및 분석 할 수있는 특수 데이터 획득 보드가 포함되어 있습니다. 에셋은 멀티 스캔 인 헤드 (multi-scann ing head) 를 특징으로하며, 다양한 웨이퍼 유형을 지원하는 것과 함께 테스트 구조를 빠르고 정확하게 조사 할 수 있습니다. 또한 저전류 (low current) 와 고전압 (high voltage) 스캐닝이 가능하여 광범위한 웨이퍼 피쳐와 형상을 조사할 수 있습니다. TENCOR P20H는 선형 이미징 모듈과 고정밀도 스테이지 모션을 결합한 LAQuarVIS 이미징 모델을 사용하여 결과의 높은 정확성과 반복성을 모두 제공합니다. 이 장비는 자동 정렬, 참조 측정, 데이터 자동 캡처 (automated capture of data) 등 다양한 자동 기능으로 설계되었습니다. 또한 P20H는 ProberLink 소프트웨어 패키지와 통합되어 자동 테스트 시스템에 wafer Probe를 쉽게 통합 할 수 있습니다. 또한 Wafer 테스트 데이터를 손쉽게 보고, 타이밍하고, 분석할 수 있습니다. 마지막으로, PROMETRIX P20H (PROMETRIX P20H) 는 다양한 테스트 매개변수를 저장하여 반복 가능하고 신뢰할 수있는 결과를 생성할 수 있습니다. 전반적으로 KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템은 웨이퍼 테스트 프로세스의 고급 조사, 도량형 및 자동화에 이상적인 솔루션입니다. KLA P20H 는 높은 정확도, 반복성, 자동화된 기능을 통해, 쉽고 정밀하게 다양한 wafer 테스트 작업을 수행할 수 있습니다.