판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-100C #293798116

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-100C는 웨이퍼 테스트 및 도량형을 위해 설계된 고성능 도구입니다. 이 장비는 광범위한 애플리케이션/프로세스 조건에서 Wafer 를 측정, 분석, 매핑할 수 있는 고급 기능을 제공합니다. RS-100C 는 매크로 (macro) 와 미세 (microscopic) 측정 모두에 대해 정적 이미징과 동적 이미징을 모두 수행할 수 있으므로 정확도가 높은 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 도량형을 선택할 수 있습니다. KLA Omnimap RS-100C는 다양한 고유 한 하드웨어 및 소프트웨어 구성 요소를 갖추고 있으며, 이 구성 요소는 웨이퍼 분석 및 도량형에 이상적입니다. 이 시스템에는 서브 미크론 해상도의 동적 이미징을위한 DBF (Dynamic Beam Formatter) 기술이 적용된 고속 스캔 헤드와 고해상도의 정적 이미징을위한 독점 PSF (Point Spread Function) 기술이 포함되어 있습니다. 고속 x/y 정렬 및 스테이지 모션 (stage motion) 은 넓은 시야와 함께, 뛰어난 이미지 충실도를 위한 고급 옵틱 및 레이저 조명이 특징입니다. 자세한 분석을 위해 RS-100C 는 고급 이미지 처리를 위한 정교한 알고리즘과 소프트웨어 (software for advanced image processing) 를 포함하고 있어 캡처된 이미지의 강력한 데이터 분석을 지원합니다. RS-100C의 고급 기능은 웨이퍼 테스트 및 도량형 작업을 단순화하는 데 도움이 됩니다. 웨이퍼 (wafer) 특성을 정확하게 측정하고 매핑할 수 있는 고급 이미징 (imaging) 및 분석 (analytical) 도구를 제공함으로써 웨이퍼의 품질과 성능을 평가하기 위한 효율적이고 포괄적인 진단 및 예후 솔루션을 제공합니다. 또한, 이 장치는 다양한 프로세스 제어 (process control) 및 자동화 (automation) 기능을 갖추고 있으므로 여러 테스트 및 측정을 쉽게 설정하고 재배치할 수 있습니다. TENCOR Omnimap RS-100C (TENCOR Omnimap RS-100C) 에는 강력한 서비스 및 지원 옵션이 포함되어 있으므로 모든 오작동을 빠르고 효과적으로 해결할 수 있습니다. 게다가, 이 기계는 직관적인 그래픽 인터페이스와 메뉴 기반 작업을 통해 인체 공학적 (ergonomic) 과 사용자 친화적 (user-friendly) 으로 설계되었습니다. Omnimap RS-100C (Omnimap RS-100C) 는 강력한 Wafer 테스트 및 도량형으로, 고급 기능, 자동 제어 기능, 포괄적인 서비스 및 지원 기능을 제공하여 정확도가 높은 Wafer 테스트 및 분석에 이상적인 솔루션입니다.