판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300 #9352954

ID: 9352954
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2001
AI Thickness measurement system, 8" 2001 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300은 혁신적인 기술과 고급 소프트웨어를 결합하여 사용자에게 반도체 웨이퍼를 신속하게 분석 및 검사하는 도구를 제공하는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 웨이퍼 테스트 및 도량형에서 탁월한 속도와 정확성을 제공합니다. 업계 최고 수준의 모듈성 (Modularity) 과 확장성 (Scalability) 을 통해 유연성이 뛰어나기 때문에 애플리케이션의 구체적인 요구 사항에 맞게 장치를 사용자 정의할 수 있습니다. KLA M-Gage 300은 여러 고급 도량형 기술을 단일 기계에 통합하여 포괄적인 광학 및 음향 마이크로 칩 검사를 제공합니다. 광자재 (photoresist), 금속 (metal), 필름 (films) 등과 같은 다양한 재료를 분석 할 수 있습니다. 이는 wafer-level defect localization 에서 topography measurements 에 이르기까지 다양한 애플리케이션의 안정적인 결과를 보장합니다. 이 도구는 다양한 고급 (advanced) 기능을 제공하여 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 여기에는 웨이퍼의 빠르고 정밀한 정렬을위한 2 축 스캐닝 단계, 고급 무채 이미징 자산, 독특한 하이브리드 현미경 모델 및 높은 정확도 웨이퍼 테스트 패턴이 포함됩니다. 또한 TENCOR M-Gage 300 은 강력한 소프트웨어 제품군과 함께 제공되므로 대규모 데이터를 신속하게 처리할 수 있습니다 (영문). 장비는 매우 컴팩트하며, 로우 프로파일 (low-profile) 설계로 인해 클린 룸 환경에 적합합니다. M-Gage 300 또한 사용이 간편한 사용자 인터페이스와 직관적인 워크플로우를 통해 사용이 매우 직관적입니다. 고급 소프트웨어 통합을 통해 데이터를 빠르고 정확하게 처리할 수 있습니다. 이 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템은 반도체 웨이퍼 조사 및 분석을위한 강력하고 다용도 솔루션입니다. 즉, 사용자에게 매우 정확한 결과를 신속하게 생성할 수 있는 툴과 능력을 제공합니다. 확장성, 모듈성, 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 는 사용자의 구체적인 요구를 충족할 수 있는 유연성이 뛰어나고 맞춤형이 가능합니다.
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