판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9194326

KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan은 안정적이고 혁신적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 고속, 비파괴적 웨이퍼 표면 지형 분석을 제공하도록 설계되었습니다. 총 너비, 피크 (peak) ~ 밸리 높이, 스텝 높이, 평균 거칠기, 결함 너비 및 깊이와 같은 중요한 서피스 매개변수를 측정합니다. KLA 7600 Surfscan 시스템은 광학 현미경, 이미지 처리 하위 시스템, X-Y 단계 및 컴퓨터 컨트롤러 등 4 가지 구성 요소로 구성됩니다. 광학 현미경은 고해상도 (고해상도), 고대비 (고해상도) 이미징 장치를 일반 (일반), 저광원 (저해상도) 모두에서 캡처합니다. 이미지 처리 시스템 (Image Processing Machine) 은 캡처된 이미지에서 정확한 서피스 매개변수를 추출할 수 있습니다. X-Y 단계는 웨이퍼 샘플을 매우 정확하게 변환하고, 전산화 (Computerized) 컨트롤러는 전체 측정 프로세스를 자동화합니다. 이 도구에는 웨이퍼 지형 측정, 임계 치수 측정, 결함 크기 정량화, 평탄도 분석, 전기 검사, 저항 측정 등 다양한 기능이 있습니다. 큰 형식의 웨이퍼, 작은 다이 사이즈, 복잡한 샘플 등 다양한 샘플 유형과 크기를 지원합니다 (영문). TENCOR 7600 Surfscan에는 강력한 어플리케이션 및 분석 툴이 포함되어 있어, 고객이 결과를 분석, 분석, 표시할 수 있습니다. 이 도구를 사용하면 서로 다른 두 서피스를 비교할 수 있고, 성능 저하 영역을 감지하고, 결과에서 중요한 결정을 내릴 수 있습니다. 더욱이, 자산은 구성 능력이 뛰어나므로, 사용자는 분석/결과를 애플리케이션 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. 또한, 이 모델은 사용자에게 고급 이미지 수정 기능을 제공하여 다양한 종횡비, 텍스처, 지형으로 서피스를 정확하게 측정할 수 있습니다. 7600 Surfscan 장비는 저속 및 고속 웨이퍼 검사를 모두 할 수 있습니다. 사용자는 자동화된 작업을 제공하여 신속하게 데이터를 수집할 수 있습니다. 특허를 받은 자동 초점 시스템은 분석의 각 단계에서 고품질 이미지를 보장합니다. 이 장치는 또한 사용자 친화적이며, 사용하기 편리하도록 도와주는 직관적인 컬러 코드 (color-coded) 인터페이스를 갖추고 있습니다. 전반적으로 PROMETRIX 7600 Surfscan은 강력하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 사용자가 웨이퍼 지형을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 광범위한 기능, 고해상도 (high resolution), 구성 가능한 플랫폼 덕분에 반도체 업계에서 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형이 선호됩니다.