판매용 중고 KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9026258

KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscan 장비는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구입니다. 광방출 디스플레이 (Light Emission Display), LED (LED), 레이저 (Laser), 고급 응용 프로그램 (Advanced Application) 과 같은 현대 기술에 사용되는 것을 포함하여 다양한 반도체 웨이퍼를 검사하는 데 사용됩니다. 이 시스템을 통해 사용자는 자신의 성능에 영향을 줄 수 있는 모든 오류 (Error or Fault) 에 대한 웨이퍼를 신속하게 분석할 수 있습니다. KLA 7600 Surfscan 에는 강력한 분석 기능이 통합되어 있어 웨이퍼 (wafer) 품질과 관련된 다양한 매개변수를 검사하고 검토할 수 있습니다. 라인 결함 감지, 비 균일 성 및 퍼지 니스와 같은 여러 분석 양식을 제공합니다. 이 장치는 또한 고급 광학 스캐닝 머신 (Optics Scanning Machine) 을 갖추고 있어 빠르고 정확한 검사 프로세스를 수행할 수 있습니다. 또한, 도구와 함께 결함 검사 및 검토 (review) 기능을 사용할 수 있으며, 이를 통해 웨이퍼에서 결함 및 하위 서피스 피쳐를 감지하고 검토할 수 있습니다. 에셋은 또한 평면도, 원 모양, 경사 모서리, 테두리 표시를 인식하는 뷰를 사용하여 위쪽 이미지 분석을 수행합니다. TENCOR 7600 Surfscan 모델은 직관적이고 사용자에게 친숙한 HMI (Human Machine Interface) 를 제공하여 다양한 장비 설정 및 기능에 쉽게 액세스할 수 있습니다. 이렇게 하면 사용자가 이미지를 쉽게 얻을 수 있고, 분석 매개변수를 구성할 수 있습니다. 또한, 다양한 이미지 분석 알고리즘 (image analysis algorithm) 을 사용할 수 있으므로 정확한 결함 감지 프로세스가 가능합니다. 시스템의 성능을 더욱 최적화하기 위해 다양한 고급 교정 (advanced calibration) 기술을 사용할 수 있습니다. 여기에는 평평한 교정뿐만 아니라 글로벌 및 지역 traceology 교정이 포함됩니다. 이를 통해 장치 (wafer) 가 다양한 유형의 결함과 오류를 정확하게 감지할 수 있습니다. 마지막으로 7600 Surfscan에는 포괄적 인 응용 프로그램 라이브러리가 제공됩니다. 이 라이브러리에는 결함 감지기, 전압 대비 이미징 (Voltage Contrast Imaging), 그리고 기계의 성능을 더욱 향상시키는 기타 여러 도구가 포함되어 있습니다. 즉, 사용자가 Wafer 의 문제를 신속하고 정확하게 감지하고 해결하는 데 필요한 자원을 확보할 수 있습니다.