판매용 중고 KLA / TENCOR P2H #9082646

KLA/TENCOR P2H (KLA/TENCOR P2H) 는 반도체 업계의 광범위한 프로세스를 지원하기 위해 설계된 완전 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템에는 고해상도 웨이퍼 서피스 (Wafer Surface) 및 피쳐를 이미징할 수 있는 고급 이미징 및 분석 기능이 장착되어 있습니다. 모양과 크기, 웨이퍼, 다이, 서피스 등 정확한 측정을 제공합니다. 이 장치에는 서보 구동 다이 측정 모듈 (servo-driven die measuring module) 이 있으며, 고급 비전 알고리즘을 사용하여 웨이퍼 표면에서 소규모 피쳐를 감지합니다. 기계는 웨이퍼 평평, 서피스 거칠기 및 경사 각도에 대한 측정을 제공합니다. 이 도구에는 높은 정확도를 측정하는 여러 광학 센서 (optical sensor) 가 장착되어 있으며, 정밀 정렬을 위한 자동 초점 기능도 포함되어 있습니다. 에셋은 또한 고급 자동 패턴 인식 (automatic pattern recognition) 알고리즘을 사용하여 웨이퍼 서피스의 결함 및 이상을 감지합니다. 따라서 잠재적인 문제를 신속하고 정확하게 파악할 수 있으며, 기본 (basing) 프로세스에 대한 귀중한 통찰력을 제공할 수 있습니다. 이 모델에는 데이터 분석 및 보고를위한 지능형 소프트웨어도 있습니다. 서피스 텍스처 분석, 입자 크기 측정, 웨이퍼 곡률 분석, 통계 프로세스 제어 등 다양한 분석 기능을 지원합니다. 이 소프트웨어에는 고급 보고 (Advanced Reporting) 기능도 포함되어 있으며, 사용자가 명확하고 상세한 정보로 맞춤형 Report 를 작성할 수 있습니다. 광학 성능 외에도 KLA P-2H에는 고급 샘플 처리 기능이 있습니다. 이 장비에는 최대 150 개의 웨이퍼를 대기열에 저장할 수있는 통합 샘플 피더 (sample feeder) 가 있으며 추가 샘플 피더와 인터페이스 할 수 있습니다. 또한, 시스템은 정확한 웨이퍼 배치 및 처리를 제공하는 통합 기판 로봇을 갖추고 있습니다. 전반적으로, TENCOR P 2H (TENCOR P 2H) 는 반도체 산업의 광범위한 프로세스를 지원하도록 설계된 다재다능하고 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치입니다. 이 기계는 웨이퍼 서피스에서 소규모 피쳐를 정확하게 측정할 수 있는 고급 측정 (advanced measurement) 기능을 제공합니다. 또한 데이터 분석 및 보고, 샘플 처리 기능, 자동 패턴 인식 알고리즘을 위한 지능형 소프트웨어 (Intelligent Software for Data Analysis and Reporting) 를 제공합니다. P2H (P2H) 는 생산의 최고 품질 및 지속 가능성을 보장하기 위해 사용할 수있는 강력하고 안정적인 자산입니다.