판매용 중고 KLA / TENCOR P2 #9402045

KLA/TENCOR P2 (KLA/TENCOR P2) 는 품질 제어를 위해 베어 및 패키지 집적회로에서 웨이퍼 테스트 및 측정을 수행하는 데 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 '프로브 (probe)' 로 구성되어 있으며, 다이 (die) 배치 오류를 식별하는 통합 비전 기반 검사 장치 (vision-based inspection unit) 와 다이 (die) 와 리드 프레임 사이의 잘못된 결합, 웨이퍼 표면의 결함 검색. KLA P-2 기계는 유연성과 사용 편의성을 목표로 설계되었습니다. 멀티 프로브 (Multi-Probe) 기술이 적용되어 다양한 검사 프로토콜을 갖춘 조정 가능한 프로브 동작, 액티브 센터 링 (Active Centering) 및 비전 기반 검사 도구가 가능합니다. 이 자산은 또한 안정적인 프로브 (probing) 를 보장하기 위해 설계되었으며, 독점적 인 프로브 드라이브 설계를 통해 높은 정확도와 반복 성을 제공합니다. 또한, 비전 기반 검사 모델은 가장 작은 다이 (die) 및 리드 프레임 (lead frame) 결함까지도 식별하고 정확하게 측정 할 수 있도록 설계되었습니다. 또한, 장비에는 추적 가능성 및 프로브 식별 (traceability and probe identification) 도 포함되어 있습니다. 즉, 테스트 결과는 쉽게 추적 가능하며 특정 프로브에 다시 매핑 될 수 있습니다. 또한, 추적 가능성 (Traceability) 기능을 통해 잠재적 프로세스 결함을 쉽게 파악할 수 있으므로 향후 프로세스 개선에 대한 정확한 예측이 가능합니다. TENCOR P 2에는 풍부한 기능 제어, 모니터링 및 분석 도구를 포함하는 포괄적인 사용자 인터페이스도 포함되어 있습니다. 또한, 시스템은 검증 단위 (Validation Unit) 에 연결될 수 있으며, 이를 통해 테스트 결과와 측정 결과의 정확성과 반복성을 보장할 수 있습니다. 전반적으로, KLA P2는 유연한 사용자 인터페이스, 추적 가능성, Probe 식별 기능과 유연성, 사용 편의성을 결합한 강력한 wafert 테스트 및 도량형 기계입니다. 시력 기반 검사 도구 (vision-based inspection tool) 와 검증 자산 (validation asset) 과 함께 매우 정확한 Probe는 테스트 결과와 측정 결과의 정확성과 반복성을 보장하여 품질 제어에 효과적인 선택입니다.