판매용 중고 KLA / TENCOR P2 #9009073

KLA/TENCOR P2는 다양한 반도체 분석을위한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 클라이 (KLA) 의 클라이 P-2 (KLA P-2) 시스템은 반도체 재료 분석을 위한 비용 절감과 시장 진출 시간을 지원하는 장치 특성화를위한 고정밀 도구입니다. TENCOR P 2 장치는 비저항, 시트 저항, 이동성, 고장 전압, 필름 두께, 중요 치수 측정 등 재료의 크기, 모양, 구성을 정확하게 측정하기 위해 집중된 측정 기능과 직관적인 소프트웨어 모음을 갖춘 통합 플랫폼을 갖추고 있습니다. P-2 머신 (P-2 machine) 은 샘플 웨이퍼를 정확성과 높은 처리량으로 검사 영역에 자동으로 정렬할 수 있도록 고속 정렬 도구를 사용하여 설계되었습니다. 이를 통해 TENCOR P2 자산은 임계 치수, 시트 저항 프로파일, 이동성 특성, 저항성 측정 등 샘플의 다양한 특성을 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. KLA P 2 모델의 통합 플랫폼에는 레이저 간섭법 (Laser Interferometry) 및 산란법 (Scatterometry) 과 같은 다양한 기술이 포함되어 있으며, 매우 정밀한 물리적/화학적 측정치를 생성하여 고객에게 장치에 대한 엄청난 양의 세부 정보를 제공합니다. 이 통합 플랫폼 (Integrated Platform) 을 사용하면 여러 차원의 분석, 그리고 프로세스에 대한 자세한 이해를 위한 보조 측정이 가능합니다. 사용자에게 친숙한 TENCOR P-2 소프트웨어는 통계 및 기록 분석과 같은 강력한 분석 도구를 제공합니다. 즉, 운영자가 매개변수 설정, 초점, 데이터 처리를 통해 작업을 사용자 정의할 수 있으므로 사용이 간편하지만 강력한 플랫폼을 구축할 수 있습니다. 원시 데이터 (raw data) 에서 맞춤형 프로세스 개발 (custom process development) 에 이르는 세 가지 수준의 작업을 통해, P 2 장비는 운영 프로세스가 최고의 정확성과 반복성으로 작동할 수 있도록 필수적인 도구입니다. 전반적으로, KLA/TENCOR P 2는 웨이퍼 테스트 및 도량형을 위한 효율적이고 통합된 솔루션을 제공하며, 사용자는 정확하고 상세한 결과를 빠르고 쉽게 얻을 수 있습니다. 고급 측정 기능과 직관적인 소프트웨어 제품군을 갖춘 KLA/TENCOR P-2 시스템은 다양한 디바이스 특성 (characterization) 작업에 적합한 안정적이고 업계 최고의 솔루션입니다.