판매용 중고 KLA / TENCOR P2 #293808017

KLA/TENCOR P2는 반도체 구성 요소에 대한 고급 품질 보증을 수행하는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 지표면 결함 및 결함 밀도, 고급 이미징 (advanced imaging) 및 자동 결함 탐지 기술 (automated defect detection technology) 을 통해 탐지하기 위해 개발되었습니다. KLA P-2는 입자 오염, 표면 결함, 전기 반바지 등 다양한 물리적 매개변수에 대한 반도체 웨이퍼에 대한 빠르고 정확한 검사를 제공합니다. TENCOR P 2는 고급 광선 감지, 현미경 및 이미징 기술을 사용하여 나노 미터 해상도에서 결함을 감지 및 특성화합니다. 고급 독점 SEM (스캐닝 전자 현미경) 을 사용하여 가장 높은 해상도의 이미지 데이터를 얻습니다. 이 시스템은 또한 AI (인공 지능) 알고리즘을 사용하여 표면에서 미세한 결함을 정확하게 감지합니다. 이는 잘못된 양의 결과를 줄이고 식별 프로세스를 가속화하는 데 도움이됩니다. P-2는 또한 OptiFlow라는 독점 광학 기술 (OptiFlow) 을 사용하여 웨이퍼 검사 중에 웨이퍼를 최적으로 배치하여 사용자가 더 빨리 검사하고 동일한 웨이퍼 영역을 여러 번 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 6 나노 미터만큼 작은 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한, 통합 데이터 분석 플랫폼 (Unified Data Analysis Platform) 이 장착되어 있어 사용자는 기계에서 복잡한 데이터를 추출하고 추가 연구를 위해 분석 (Analysis) 할 수 있습니다. 또한 자동화된 결함 식별 (Defect Identification) 및 검토 자산 (Review Asset) 을 통해 미리 정의된 기준에 대한 결함 분류 및 비교를 추가로 확인할 수 있습니다. 이 로 말미암아 어떤 결함 이 있는지를 신속 히 이해 할 수 있으며, 개선 과 관련 하여, 더 나은 결정 을 내릴 수 있다. 그렇다. KLA/TENCOR P-2는 반도체 웨이퍼 검사 및 테스트에 필수적인 도구입니다. 고급 이미징 기술, 자동화된 결함 감지 (Automated Defect Detection), 통합 데이터 분석 (Unified Data Analysis) 기능을 통해 고객은 자사 제품에 대한 의미있는 정량적이고 질적인 통찰력을 얻을 수 있습니다. 고해상도 (High Resolution) 및 결함 감지 (Defect Detecting) 기능은 최종 제품의 신뢰성과 품질에 대한 신뢰도를 높여줍니다.