판매용 중고 KLA / TENCOR P2 #293601019

ID: 293601019
Disk profiler.
KLA/TENCOR P2는 반도체 제조에서 생산 된 전자 장치의 신뢰성을 보장하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템의 핵심은 자동화된 측정 (automated measurement) 과 업계 최고의 정밀 시각 검사 기능의 고급 플랫폼입니다. KLA P-2 장치의 고속, 고해상도 웨이퍼 매핑 및 테스트를 통해 일관되고 안정적인 제품 생산을 보장합니다. 종합적인 비전 검사 (vision inspection) 및 구조적 실패 분석 (structural failure analysis) 을 통해 각 제조 단계에서 프로세스 제어 및 항복 극대화를 제공합니다. TENCOR P 2 머신에는 자동 현미경이 포함되어 있습니다. 자동 현미경은 시력 도구 (vision tool) 를 통해 웨이퍼의 유전체 표면에서 결함을 정확하게 감지하고 식별 할 수 있습니다. 이를 통해 측정 및 도량형 데이터의 정확한 배치, 방향, 추적 가능성 (Traceability of Measurement and Metrology Data) 을 사용할 수 있습니다. KLA P 2 에셋의 다른 기능으로는 여러 이미지 블록이 있는 자동 읽기/쓰기 이미지 그룹화 (read-write image grouping), 최적 크기 이미지 및 적절한 중심의 이미지가 있습니다. 또한 미리 결정된 결함을 식별 할 수있는 세그먼트 알고리즘이 포함되어 있습니다. 또한 P2 (P2) 를 사용하면 테스트 설정을 사용자 정의할 수 있으며, 보다 정확하고 빠른 처리량으로 측정을 수행할 수 있습니다. 업계 최고의 검사 기능 외에도, P 2 모델은 광범위한 통계 측정 데이터를 제공합니다. 따라서 사이트, 프로세스, 재료의 조정이나 향후 개선 사항을 파악할 수 있습니다. KLA/TENCOR P-2 장비는 또한 완벽한 장애 모드 분석을 제공하여 장치 최적화 및 수율 개선을 위해 웨이퍼 정렬을 지원할 수 있습니다. 또한, 유연성 있는 설계를 통해 다른 처리 도구와 호환되므로 기존 워크플로우와의 통합이 더 쉬워집니다. 전반적으로 KLA의 KLA/TENCOR P 2 시스템은 강력한 테스트 및 도량형 장치로, 전자 부품의 안정성과 일관성을 보장합니다. 업계를 선도하는 모든 반도체 제조업체의 경우, KLA P2 는 최고의 품질 및 생산 표준을 보장하는 데 중요한 역할을 할 수 있습니다.
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