판매용 중고 KLA / TENCOR P17 #293814734

KLA/TENCOR P17 (KLA/TENCOR P17) 은 다양한 반도체 장치를 수용하기 위해 강력하고 유연한 플랫폼을 기반으로 제작된 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고급 Optic 및 Metrology 알고리즘을 사용하여 정확하고 정확한 결과를 제공하므로 엔지니어가 신속하게 데이터를 측정, 처리, 분석할 수 있습니다. KLA P-17 장치에는 고해상도의 대형 6 색 CCD 카메라, 시각적 감상용 고품질 액정 디스플레이 (LCD), 이동식 분광계, 광학 비교기 등 최첨단 부품이 장착되어 있습니다. 이 설정을 사용하면 결함 분류, 입자 식별, 서피스 검사, 선 너비 측정, 두께 측정 등 포괄적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 기능을 사용할 수 있습니다. TENCOR P 17의 고해상도 카메라 (High Resolution Camera) 를 사용하면 세밀하게 와퍼의 미세한 이미지를 캡처하여 엔지니어가 표면 기능 및 결함에 대한 개별 픽셀을 분석 할 수 있습니다. 엔지니어는 알고리즘을 사용하여 선 너비 (line width), 서피스 지형 (surface topography) 과 같은 피쳐를 정밀하게 측정할 수 있습니다. 입자의 자동 검출 (automated detection of particle) 을 통해 다양한 결함 유형의 존재를 결정할 수도 있는데, 이는 크기, 모양, 위치에 따라 분리되고 식별됩니다. 이 핵심 기능 세트 외에도 KLA/TENCOR P-17 은 데이터 분석 및 보고 기능, 통계 프로세스 제어, 자동 결함 검사 등 다양한 추가 기능을 제공합니다. 이 다기능 시스템은 실리콘 웨이퍼 (silicon wafer), MEM 장치, 기타 집적 회로 (integrated circuit) 등 다양한 기판의 데이터를 캡처, 처리 및 분석할 수 있습니다. 전반적으로 KLA P17 툴은 강력하고 신뢰할 수 있는 툴로서, 경제적인 가격으로 높은 정확성과 신뢰성을 제공합니다. '제품 품질 (Quality)' 과 '성능 (Performance)' 을 높이기 위해 다양한 기판을 측정, 처리 및 분석할 수 있으며, 엔지니어가 결함을 파악하고 줄일 수 있도록 지원합니다. P 17 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형 자산 (metrology asset) 은 정교한 기능과 기능을 통해 반도체 업계의 주요 과제에 대한 신뢰할 수있는 솔루션을 제공합니다.