판매용 중고 KLA / TENCOR P16+ #9130068

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ID: 9130068
웨이퍼 크기: 2"-6"
빈티지: 2010
Surface Profiler, 2"-6" Maximum scan length: 80 mm or 200 mm Laterial resolution1: X = 25 nm, Y = 1 µm Microhead 5 SR: Vertical range 327 µm Stylus force 1-50 mg 13 µm, resolution <0.01A 64 µm, resolution <0.04A 327 µm, resolution < 0.20A Microhead 5 LF: Vertical range 130 µm Stylus force 0.05-50 mg 6.5 µm, resolution < 0.01 A 26 µm, resolution < 0.02 A 130 µm, resolution < 0.10 A Microhead 5 XR: Vertical range 1000 pm Stylus force 0.5 - 50 mg 13 µm, resolution < 0.01 A 130 µm, resolution < 0.08 A 1000 µm, resolution < 0.60 A Vertical linearity2: ± 0.5% above 2000 A 10 A below 2000 A Repeatability: 7.5 A or 0.1% (1 s),whichever is greater Reproducibility: 15.0 A or 0.25% (1 s), whichever is greater Scan speed3: 2 µm/sec to 25 mm/sec Sampling rate: 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000 Hz Stylus control: Electromagnetic force compensation Stylus: 4 different radii for long-scan applications—2.0 µm, 5.0 µm, 12.5 µm, 25 µm (coarse). Submicron radius (0.1 - 0.8 µm) for micro surface analysis (fine) Dual view optics (field of view): Side view: 1750 x 1750 µm Top view: 1400 by 1040 µm or optional 900 by 650 µm Camera: Optional digital color camera Relative humidity : 30 - 40% (non-condensing) recommended Temperature : 16°-25° C, rate of change ≤2° C/h Electrical : 90 - 110 V, 50 - 60 Hz 110 - 130V, 50-60 Hz 208 - 260V, 50 - 60 Hz Power requirements: 430 VA Vacuum : 500 mm Hg @ 27 liters/min Floor vibration : ≤250 µ inch/s (6 4 pm/s) RMS, 1-100 Hz Audio noise : ≤80 dB (C weighting scale) Laminar airflow : ≤100 ft/min (30 m/min) down blowing recommended Microprocessor: Pentium®4 2.8 GHz or greater Operating system : Windows® XP-based operating system RAM : 1 GB or greater Disk storage : 80 GB or greater Removable storage : 3.5 inch, 1.4 MB floppy disk drive DVD/CDRW Monitor: 17-inch flat panel LCD Network : PCI ethernet card 2010 vintage.
KLA/TENCOR P16 + 는 최첨단 반도체 프로세스를 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. KLA 제품군의 주요 제품으로, 입자 테스트, 공정 제어 및 웨이퍼 표면 도량형에 대한 업계 최고의 성능을 제공합니다. KLA P 16 + 는 12 인치 및 8 인치 웨이퍼를 포함한 여러 웨이퍼 구성을 지원하며 3D-NC (3D-NC) 검사 및 3DOP (Optical 3D Profiling) 응용 프로그램을 지원합니다. 이 시스템은 모든 유형의 웨이퍼 지형 (예: TSV, Cu 기둥 및 eTOX) 에 대한 고급 테스트 기능을 제공합니다. 기판 지형, 3D 기능 및 기타 중요한 매개변수 (고급 테스트 요구 사항) 에 걸쳐 정확한 측정을 제공하도록 설계되었습니다. TENCOR P-16 + 장치는 비접촉 및 연락처 테스트 기능을 모두 제공합니다. 혁신적인 고급 아키텍처 (Advanced Architecture) 와 특허 기술을 통합하여 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 전체 데이터 수집 프로세스를 단축합니다. 이러한 기술을 통해 기계는 원하는 기준이나 사전 정의된 제한 (Pre-Defined Limit) 에 따라 기존 표준과 테스트 결과를 효율적으로 비교할 수 있습니다. 이 도구는 고급 알고리즘 기반 자동 결함 감지 기능을 사용하여 결함을 감지 할 수도 있습니다. TENCOR P 16 + 는 직관적이고, 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공하여 손쉬운 데이터 관리 및 결과를 시각적으로 보여줍니다. 또한 DataTrends 도구, Digital Manufacturing Toolbox, 이미지 분석 등 효율성 및 생산성 향상을 위한 다양한 소프트웨어 툴을 제공합니다. 웹 기반 인터페이스를 통해 사용할 수 있는 다양한 기능과 결합된 포괄적인 툴박스 (Toolbox) 를 통해 자산을 신속하게 분석, 시각화, 보고할 수 있으므로 운영 환경에 이상적인 솔루션이 될 수 있습니다 (영문). 또한, 이 모델은 업계 최고의 도량형 기능을 지원하여 높은 정확성과 반복성을 제공합니다. 고급 알고리즘과 고속 스캐닝을 결합하여 다양한 기판 재료에서 초소형 (ultra-smooth) 표면을 생성합니다. 또한 고급 프로세스 제어 (process control) 에서 항복 분석 (Yield Analysis) 에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 대한 여러 도량형 애플리케이션을 지원합니다. TENCOR P16 + 는 제조업체에 장치를 측정, 분석, 검사하는 효율적인 비용 효율적인 도구를 제공합니다. 인텔리전스 기반 자동화 기능, 포괄적인 툴 세트, 고급 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 도량형 (metrology) 기능을 갖춘 최상위 성능을 제공합니다. 이 장비는 대용량 생산 환경에 이상적인 선택이며, 생산량 (Yield) 과 주기 (Cycle) 를 보장하는 데 필요한 유연성과 정확성을 제공합니다.
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