판매용 중고 KLA / TENCOR P16+ #293815639

KLA/TENCOR P16 + 장비는 반도체 산업에 종합적인 도량형 솔루션을 제공하기 위해 설계된 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 고급 알고리즘과 독점 감지 (proprietary sensing) 기술을 사용하여 웨이퍼를 빠르고 정확하게 측정하고 분석합니다. KLA P 16 + 는 0.8 미크론에서 32 미크론 사이의 다양한 두께로 웨이퍼 및 기타 기판의 두께, 실패 분석 및 지형을 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 이 장치는 프로세스 모니터링, 상세한 결함 분석 등 다양한 수준의 광 테스트 (optical testing) 를 위해 구성할 수도 있습니다. TENCOR P-16 + 에는 다중 파장 레이저 조명기를 갖춘 정교한 광학 검사 머신 (optical inspection machine) 이 장착되어 있으며, 이는 반사 및 굴절률 측정과 같은 다양한 테스트에 사용할 수 있습니다. 고유 한 다중 파장 광학을 통해 공구가 NIST 추적 가능한 자격 테스트를 넘어 수행 할 수 있습니다. 에셋은 또한 교체 가능한 렌즈와 스테이지 플레이트가 장착 된 모듈식 프로브 헤드 (modular probe head) 를 사용하여 높은 정밀 샘플링 및 측정을 수행합니다. KLA P-16 + 는 또한 다양한 전기 테스트 신호를 아날로그 (analog) 또는 디지털 형식으로 캡처 할 수 있습니다. 이 인터레이스 기능을 사용하면 테스트 특성화, 프로세스 모니터링 테스트 및 오류 분석을 수행할 수 있습니다. 또한, 이 모델에는 정교한 임베디드 소프트웨어 (Embedded Software) 와 강력한 분석 소프트웨어 툴이 포함되어 있어 손쉽게 데이터를 캡처하고 분석할 수 있습니다. KLA/TENCOR P-16 + 장비는 사용자 요구와 예산에 따라 다양한 구성으로 제공됩니다. KLA/TENCOR P 16 + 시스템에는 최대 3,000,000 포인트 동안 각 웨이퍼 표면을 정확하게 측정하는 자동 웨이퍼 매핑 장치가 포함되어 있습니다. 또한 스캐닝 된 객체의 3 차원 구조를 정확하게 분석 할 수있는 혁신적인 단면 이미징 머신 (cross-section imaging machine) 이 장착되어 있습니다. 전체적으로 KLA P16 + Wafer Testing and Metrology Tool은 모든 유형의 생산 및 연구 응용 프로그램에 뛰어난 성능과 정확성을 제공합니다. 고급 광검사 자산, 자동 웨이퍼 매핑 (automated wafer mapping) 모델, 강력한 분석 소프트웨어를 통해 반도체 생산자 및 연구자에게 이상적인 선택이 됩니다.