판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #9315027

KLA/TENCOR P15 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 재료 및 제품에 대한 빠르고, 효율적이며, 자동화된 테스트 및 검사를 위해 설계되었습니다. 자동화된 광검사 솔루션을 활용해 미세 균열 (micro-crack), 입자 (particle), 기타 결함 등 잠재적인 결함을 감지할 수 있다. KLA P-15는 특수 이미징, 조명, 분석 기술을 통합하여 웨이퍼 표면의 이미지를 신속하게 캡처하고 분석합니다. 이 장치에는 객관적인 특성을 파악하고 측정하는 데 도움이 되는 독점 기능 인식 알고리즘이 포함되어 있습니다. 또한 TENCOR P 15에는 정밀 도량형 도구와 고급 측정이 포함되어 있습니다. 이러한 도구를 사용하면 웨이퍼 지형, 치수 및 기타 재료 특성 (예: 평평, 프로파일) 을 정확하고 정확하게 측정할 수 있습니다. 반도체 업계의 성공에 필요한 정확한 차원 요구사항을 유지하는 데는 이 측정이 필수적이다. & # 160; & # 160; & # 160; 또한, P15는 고정밀 센서로 구성되며, 이는 웨이퍼 표면 프로파일로부터 정확한 데이터를 캡처합니다. 이렇게 하면 피쳐 크기, 거리, 서피스 지형 및 기타 여러 서피스 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. P-15는 또한 결과를 분석, 정렬 및 보고하는 강력한 소프트웨어 도구를 제공합니다. 소프트웨어의 분석 기능을 통해 상세한 결함 분류, 데이터 검사, 통계 요약 보고서를 작성할 수 있습니다. 이 기계는 방대한 양의 데이터를 저장, 분석 및 보고 할 수 있습니다. '보고' 기능을 통해 고객은 해당 정보를 의미있는 방식으로 제공할 수 있습니다. KLA/TENCOR P 15는 자동화된 결함 분류, 보고, 결함 관리 기능을 제공하여 데이터 관리 비용을 절감하면서 검사 효율성을 높입니다. 또한 TENCOR P-15에는 KLA 온라인 결함 관리 도구에 대한 연결이 포함되어 있습니다. 따라서 결함 데이터를 원격으로 액세스하고, 데이터를 안전하게 공유, 공동 작업을 수행할 수 있습니다. 결국, KLA P15 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산은 반도체 재료 및 제품을 측정, 검사, 분석하기위한 필수 도구입니다. 강력한 이미징 기술, 도량형 도구, 분석 및 보고 기능을 갖춘 KLA P 15는 사용자가 원하는 웨이퍼 테스트 요구 사항에 대해 안정적이고 효율적인 솔루션을 제공합니다.