판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #9302869

KLA/TENCOR P15 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 웨이퍼의 다양한 특성을 정확하게 측정 할 수있는 자동 도량형 플랫폼입니다. wafer 매핑 도구, 광학 도량형 도구, 가속 테스트 도구, 다양한 측정/분석 도구 등 다양한 wafer 툴을 제공합니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 포괄적인 표준/맞춤형 테스트 절차 라이브러리 (library of standard/customed test procedure) 를 통해 쉽게 작동할 수 있도록 설계되었습니다. KLA P-15에는 컨투어링 툴 (contouring tool) 과 두께 프로파일러 (thickness profiler) 와 같은 여러 가지 강력한 광학 도량형 도구가 함께 제공됩니다. 자동 초점 시스템 (automated focusing system) 으로 설계되어 수동 기술 시간의 일부분에서 정확한 측정을 보장합니다. 또한 TENCOR P 15는 레이저 텍스처 및 웨이퍼 패턴 응용 프로그램을위한 고출력 레이저 빔을 갖추고 있습니다. "레이저 '사용량 의 전압 은 특정 한" 응용프로그램' 에 맞게 조정 할 수 있으며, 더 정밀 한 결과 를 얻기 위하여 "레이저 '를" 펄스' 모드 로 설정 할 수 있다. KLA P 15는 또한 웨이퍼의 가속도를 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 고속 가속도계와 고정밀 인코더를 사용하여 테스트 중 웨이퍼의 가속 (acceleration) 과 감속 (deceleration) 을 정확하게 측정합니다. 또한, 웨이퍼 가속/감속 테스트 도구 (wafer acceleration/deceleration testing tool) 를 사용하여 반복 가능한 테스트 결과를 생성하고 웨이퍼의 품질을 확인할 수 있습니다. 머신에는 또한 웨이퍼 서피스를 정확하게 매핑하도록 설계된 멀티 열 웨이퍼 매핑 (multi-column wafer mapping) 도구가 있습니다. 이 도구는 16 개의 열 배열을 사용하여 두께, 높이, 면적 등을 포함하여 웨이퍼 서피스의 맵을 쉽게 생성합니다. 이 툴은 표준 소프트웨어 인터페이스를 통해 작동하여 사용 편이성을 최적화할 수도 있습니다. 전반적으로, P 15는 자동 도량형 플랫폼으로, 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 다양한 강력한 도구와 기능을 제공합니다. 사용자 친화적 인 인터페이스로 설계되었으며, 수작업 (manual method) 시간의 일부분에서 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 KLA P15에는 가속 및 감속, 컨투어, 레이저 텍스처 및 패턴, 웨이퍼 매핑을 측정하기위한 다양한 도구가 있습니다. 이러한 기능을 통해 P15는 웨이퍼 테스트 및 도량형 어플리케이션에 적합한 선택이 가능합니다.