판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #9166831

KLA/TENCOR P15는 오늘날 반도체 산업에 사용되는 웨이퍼를 정확하고 효율적으로 테스트 및 분석하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 AFR (3D Automated Feature Recognition) 기술을 사용하여 마이크로 스케일 수준까지 빠른 속도로 웨이퍼를 분석 할 수 있습니다. 이 기능을 통해 KLA P-15는 모양, 특징 크기 및 위치를 정확하고 신속하게 식별할 수 있습니다. 텐코 P 15 (TENCOR P 15) 는 고해상도로, 왜곡없이 고해상도 이미지를 캡처할 수있는 고속 전자 빔 광학 머신으로 제작되었습니다. 이 도구는 역사적으로 정밀 부품 및 반도체 웨이퍼를 검사하고 측정하는 도구로 사용되었습니다. 이미지 처리 및 분석 기능이 이제 결함 감지 및 실패 분석 (Failect Detection and Failure Analysis) 으로 확대되었습니다. 또한 KLA P15는 1 미크론 이하의 정밀도로 깊이, 너비 및 높이를 측정 할 수 있습니다. KLA P 15는 100mm에서 300mm 사이의 여러 웨이퍼 유형과 크기를 수용 할 수있는 유연성을 가지고 있습니다. 이 자산은 견고한 용접 강철 프레임 (Strust Welded Steel Frame) 으로 설계되어 테스트 중 진동 격리를 제공하고 정확도를 극대화합니다. 고급 고출력 CT (computed tomography) 스캔 및 필터링 기능은 웨이퍼 표면에서 3,500 만 개 이상의 기능을 실시간으로 캡처하여 웨이퍼 데이터를 정확하게 스캔 및 분석하는 데 도움이됩니다. P-15 는 직관적인 사용자 인터페이스를 제공하며, 직관적인 "드래그 앤 드롭 (drag and drop)" 기능을 제공하여 모델의 테스트 및 도량형 기능을 신속하게 사용자 정의합니다. 또한 P15는 고급 데이터 수집, 저장, 편집 및 내보내기를 지원합니다. 또한 데이터 분석 프로그램을 액세스하여 결과의 신속한 시각화, 커뮤니케이션 능률화 등의 이점을 얻을 수 있습니다. KLA/TENCOR P-15는 수많은 애플리케이션에 사용할 수 있으며 탁월한 분석 기능을 제공하는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 고해상도 이미징, 빠른 획득 속도, 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 TENCOR P15 시스템은 정확하고 신뢰할 수 있는 결함 감지 및 장애 분석 (Failure Detection and Failure Analysis) 에 의존하는 업계에 이상적인 선택입니다. P 15 는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 올인원 (All-in-One) 솔루션을 제공하며 모든 수준의 생산에 꼭 필요한 솔루션입니다.