판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #293813803

KLA/TENCOR P15 웨이퍼 테스트 (Wafer Test) 및 도량형 장비 (Metrology Equipment) 는 제조 과정에서 반도체 웨이퍼의 물리적 및 전기적 매개변수를 측정하는 데 사용되는 자동 도구입니다. 고속, 고해상도 도량형 (high-resolution metrology) 및 프로브 기능을 제공하여 제조업체가 요구하는 정확성과 성능을 제공합니다. KLA P-15는 광범위한 고급 기능을 갖춘 강력한 시스템입니다. 고급 비전 기술은 웨이퍼의 결함을 정확하게 찾는 데 도움이됩니다. 이미지 분석, 진단 기능, 자동 초점 (auto-focus) 기능을 자동화하여 운영자가 문제를 보다 효율적으로 해결할 수 있습니다. 이 장치에는 또한 서브 미크론 해상도로 소형 반도체 장치 기능의 특성을 정확하게 측정 할 수있는 통합 다이 투 다이 (die-to-die) 임계 치수 측정 기능이 포함되어 있습니다. 또한, TENCOR P 15는 테스트를 위해 웨이퍼를 로드하고 제조 프로세스의 다양한 단계로 이동할 수있는 다양한 웨이퍼 처리 (wafer handling) 기능을 제공합니다. 이는 처리량 (throughput) 과 정확도 (accuracy) 를 높일 뿐만 아니라 웨이퍼 손상 위험도 줄여줍니다. 측정 및 분석 작업을 위해 TENCOR P15 (TENCOR P15) 는 다양한 프로브 및 기기를 사용하여 운영자가 필요로 하는 데이터를 캡처합니다. 여기에는 가벼운 현미경, 레이저 현미경, 전기 테스터, 저항 프로브, 온도 프로브 및 기타 도구 등이 포함됩니다. 그런 다음 데이터는 중앙 데이터베이스에 공급되며 웨이퍼 두께 (wafer thickness), 플랫 (flatness), 응력 (stress), 전기 저항 (electrical resistance) 등과 같은 매개변수에 대한 자세한 보고서를 생성하는 데 사용됩니다. 또한 KLA/TENCOR P-15 (KLA/TENCOR P-15) 는 매우 빠른 속도와 정확도로 기능을 검사할 수있는 정교한 알고리즘과 소프트웨어를 포함하는 고급 도량형 기능을 제공합니다. 이것은 나노 미터 (nanometer) 정확도로 웨이퍼에 피쳐를 정확하게 정렬하고 측정하는 시스템 기능으로 인해 가능합니다. 그런 다음, 이 데이터를 사용하여 디바이스 구성 프로세스에서 발생하는 모든 문제를 해결할 수 있습니다. 마지막으로 KLA P 15는 다양한 보고 기능을 제공합니다. 이 강력한 시스템은 정교한 보고 인터페이스 (Reporting Interface) 를 통해 고객과 품질 관리 (Quality Control) 에 대한 상세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 또한 사용자는 필요한 매개 변수가 포함된 문서, 차트, 보고서를 쉽게 생성할 수 있습니다. TENCOR P-15 Wafer Test and Metrology Tool은 반도체 웨이퍼의 물리적, 전기적 매개변수를 측정하고 평가하는 데 이상적인 도구입니다. 반도체 제조업체들이 선진적인 기술력을 발휘해 왔다. 반도체 제조업체들은 이제 이 툴을 이용해 생산수익을 개선하고 결함을 최소화할 수 있다. & # 160; & # 160;