판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #293657257

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ID: 293657257
빈티지: 2003
Surface profiler 2003 vintage.
KLA/TENCOR P15 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 산업을위한 최첨단 도구입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 내에서 다양한 물리적 특성을 식별, 측정, 분석하도록 설계된 여러 기기로 구성된 시스템입니다. 이 장치는 고급 분석 (Advanced Analysis) 및 처리 알고리즘과 결합된 고성능 이미징 기술을 통해 테스트 결과를 빠르고 정확하게 분석 할 수 있습니다. 웨이퍼 평면도, 전체 측면 벽 거칠기, 지형 등 다양한 웨이퍼 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 고급 결함 검사 기능이 있으며, 이를 통해 입자, 구덩이, 긁힘, 부식 손상 등의 결함을 감지 할 수 있습니다. 전체 웨이퍼 스택에서 빠르고 반복 가능한 측정을 달성하도록 설계되었습니다. 이 기계는 측정 및 분석 작업을 완전히 자동화하는 고급 제어 아키텍처 (Advanced Control Architecture) 를 갖추고 있습니다. 여기에는 공구 내부의 환경 조건을 모니터링하고 제어하는 센서와 정확한 샘플 포지셔닝 (Sample Positioning) 을 위한 정확한 단계 (Stage) 가 포함됩니다. 이 소프트웨어는 사용자에게 친숙한 그래픽 인터페이스, 자동 보고 기능, 전체 데이터 저장 (full data storage) 기능을 제공하여 측정의 추적성을 보장합니다. KLA P-15 자산은 3D 반도체 통합, 고급 석판화 측정, 백엔드 프로세스 추적, 포장 조사 등 다양한 반도체 제작 프로세스에 적합합니다. 고해상도 (High-Resolution) 기능과 자동화된 소프트웨어를 통해 고급 반도체 연구 및 개발에 이상적인 선택이 가능합니다. 이 모델은 용량이 최대 200mm 웨이퍼 (wafer) 인 다양한 유형의 샘플 크기를 처리할 수 있으며, 여러 테스트 방법과의 호환성을 통해 특성화사업 (characterization project) 에 특히 적합합니다. 따라서 TENCOR P 15 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 산업을위한 안정적이고, 정확하며, 사용하기 쉬운 도구입니다. 폭넓은 호환성, 자동화 기능, 고해상도 이미징 기술을 통해 특성화 프로젝트, 연구 개발, 생산성 품질 관리 (production-line quality control) 에 이상적인 선택이 가능합니다.
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