판매용 중고 KLA / TENCOR P15 #293592474

KLA/TENCOR P15는 웨이퍼 검사 시간을 최소화하고 결함을 줄이기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. KLA P-15 시스템은 전기 및 광학 도량형에 모두 사용되는 하향식 및 하향식 웨이퍼 테스트 아키텍처로 설계되었습니다. 또한 레이저 간섭법 (laser interferometry) 및 광도 측정법 (photometry) 과 같은 광범위한 도량형 기능을 지원하는 고급 광학을 특징으로합니다. 이 장치에는 9 축 경로 탐색, 광학 레이저 간섭계, 회절 격자 장치 등 고급 광학 머신이 장착되어 있습니다. 이 고급 광학 도구 (Advanced Optics Tool) 는 정확한 웨이퍼 매핑을 가능하게 하며, 안정적이고 정확한 방법으로 웨이퍼의 평면 컨투어, 높이 변형 및 기타 광원 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 "웨이퍼 '표면 의 결함 을 측정 하여" 웨이퍼' 의 상태 를 정확 하게 분석 하고 검사 할 수 있다. TENCOR P 15 자산에는 전기 특성, 광학 특성 및 다이 바이 특성을 측정하는 센서 배열이 장착되어 있습니다. 이 기능은 빠르고 정확한 웨이퍼 특성화와 결함 로컬라이제이션을 지원합니다. 이 모델은 또한 X 선 (X-ray) 및 웨이퍼 (Wafer) 매핑 장비가 높아 빠르고 정확한 결함 현지화 및 분류가 가능하므로 웨이퍼 검사에서 매우 효율적이고 신뢰할 수 있습니다. P 15 시스템은 패턴 인식 기술 (Pattern Recognition Technology) 의 최신 기술을 활용해 처리 (Processing) 와 환경 요인에 의한 결함을 구분하여 더 나은 결함 진단 및 예방을 지원합니다. 이 장치에는 다양한 처리량 요구 사항에 대해 개별 매개변수를 실시간으로 조정할 수 있는 '유연한 조정 (flexible adjustment)' 기능이 내장되어 있습니다. 이렇게 하면 기계 가 다른 "웨이퍼 '크기 와" 웨이퍼' 재료 및 도량형 요건 을 수용 할 수 있게 된다. 전반적으로, TENCOR P-15 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구는 웨이퍼 검사 시간을 최소화하고 결함을 줄이기 위해 설계되고 만들어졌습니다. 안정적이고, 정확하며, 효율성이 높은 웨이퍼 (wafer) 검사 및 특성화에 유용하고 신뢰할 수 있는 도구입니다.