판매용 중고 KLA / TENCOR P11 #9243727

KLA/TENCOR P11은 반도체 웨이퍼 테스트 및 도량형 응용 프로그램에 대한 매우 정확한 증명을 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이전 P 시리즈 프로버의 성공을 바탕으로 구축 된 KLA P-11은 제조 부지에 여러 가지 흥미로운 새로운 기능을 제공합니다. 혁신적인 도트 조명 디자인이 적용된 TENCOR P 11's 광학 도량형 시스템 (Optical Metrology System) 은 사용자가 실패한 웨이퍼를 신속하게 식별하고 수정 조치를 취하여 궁극적으로 수율 향상, 비용 절감 효과를 제공합니다. P 11은 향상된 3D 교정 및 클러스터링 도구를 자랑하며, 이를 통해 사용자는 기판의 비접촉 결함을 정확하고 신속하게 식별할 수 있습니다. 새로운 다중 주파수 흥분 모드는 뛰어난 반복성과 재생성을 통해 향상된 고해상도 이미징을 제공합니다. 또한, 통합 고해상도 분광사진계는 여러 프로세스 노드 및 기능 크기에 걸쳐 수백 가지의 서로 다른 물질에 대한 편리하고 매우 정확한 스펙트럼 특성을 제공합니다. KLA P11의 사용하기 쉽고 직관적인 소프트웨어는 일상적인 운영을 유행시킵니다. 사용자에게 친숙한 GUI (Graphical User Interface) 는 모든 데이터를 손끝에 표시하므로, 사용자가 웨이퍼 상태를 모니터링하고 필요한 경우 적절한 대책을 강구할 수 있습니다. KLA P 11에는 지능형 자동화 제품군도 장착되어 있습니다. 이렇게 하면 높은 처리량, 향상된 처리량 및 향상된 정확도를 얻을 수 있습니다. 고급 레이저 매핑은 정적 (static) 및 동적 패턴 (dynamic pattern) 매핑에 사용되어 미세한 프로세스 변형과 비접촉 결함을 식별할 수 있습니다. P11은 운영자에게 최대 유연성을 제공하도록 설계되었습니다. 교환 가능한 웨이퍼 크기 (최대 8 인치) 를 지원하며 광범위한 테스트, 도량형 및 리소그래피 시스템과 함께 사용할 수 있습니다. TENCOR P11 은 사용자의 성능, 정확성, 분석 요구 사항을 충족하도록 구성할 수 있는 다양한 모듈로 구성됩니다. KLA/TENCOR P-11의 포괄적인 기능은 강력하고 효과적이며 정확한 웨이퍼 테스트 시스템입니다. IC 프로세스 검증 및 수율 향상, 안정성 테스트, 프로세스 모니터링, 오류 분석, 리버스 엔지니어링, 도량형 등 다양한 애플리케이션에 적용할 수 있습니다. 고급 도량형 기술은 더 빠른 테스트 시간과 더 높은 생산 수율을 제공합니다.