판매용 중고 KLA / TENCOR P10 #9412713

KLA/TENCOR P10은 종합적인 도량형 기능을 제공하는 완전 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 정밀도와 정확도가 높은 개별 웨이퍼 (wafer) 와 반도체 (semiconductor) 패키지의 전기적 특성을 측정할 수 있다. KLA P-10 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템에는 웨이퍼 (wafer) 의 전기 특성과 관련된 다양한 기기 및 부품이 포함됩니다. 예를 들어, TENCOR P 10은 광/전기 특성 기기와 임계 치수 측정 기능의 조합을 제공합니다. 이 장치는 전류, 전압, 저항, 정전 및 인덕턴스를 포함한 다양한 전기 사양을 지원합니다. P10 은 신속하게 결함을 파악하고 웨이퍼 (Wafer) 와 패키지 리테스트를 최소화하여 고급 반도체/전자 제품의 수율을 향상시키도록 설계되었습니다. 따라서, 이 제품은 고부가가치 반도체 제품의 생산량을 관리하고 개선하기 위한 효과적인 도구입니다. 이 기계는 고급 해상도 이미징 기능, 여러 사이트에 대한 고속 테스트, 독점 테스트 알고리즘을 갖추고 있습니다. 웨이퍼 처리 도구는 다양한 로트 크기를 수용하며, 뛰어난 반복성과 균일성을 제공합니다. 또한 TENCOR P-10 은 LiDAR 자산을 통해 높은 처리량 데이터 획득 및 모니터링을 지원하므로, 더 빨리 다시 테스트해야 하는 부품을 파악하고 분리할 수 있습니다. 데이터는 실시간으로 수집 및 분석 할 수 있습니다. 또한 KLA P 10 의 도량형 (metrology) 기능은 업계 최고의 소프트웨어 패키지에서 지원되며, 이를 통해 사용자는 결과를 정확하고 신속하게 해석할 수 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 Wafer 또는 Package 에 있을 수 있는 전기 이상 (Electrical Anomalies) 및 기타 결함을 신속하게 파악할 수 있습니다. P 10은 다양한 기능과 안정성을 극대화할 수 있도록 설계되었습니다. 통합 소프트웨어와 하드웨어는 제한 결함 위치 및 식별 테스트, 결함 밀도 측정, low-k 특성, 3D 스택 웨이퍼 분석 등 다양한 응용 프로그램과 프로세스를 지원하기 위해 개발되었습니다. 이러한 각 기능은 생산 시간 (time of production) 을 줄이고 최고 수준의 제품 품질을 달성하는 데 기여합니다. 또한 맞춤형 설계 (Custom Design) 와 보다 광범위한 분석 기능을 제공하여 각 고객의 고유한 요구 사항을 충족할 수 있습니다. P-10은 반도체 제조업체를위한 이상적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 솔루션입니다. 리테스트 (Retest) 를 줄이고 고품질 부품을 보장하는 자동 테스트 및 도량형 (Metrology Model) 을 제공하여 이러한 회사의 운영 최적화, 수익률 향상, 비용 절감을 돕기 위해 설계되었습니다. 반도체 제조업체는 KLA/TENCOR P-10 을 통해 웨이퍼나 패키지 관련 문제를 신속하고 정확하게 진단할 수 있으며, 시간과 비용을 절감하고 최고 수준의 품질을 보장합니다.