판매용 중고 KLA / TENCOR P1 #293751599

KLA/TENCOR P1은 반도체 부품의 차원 정확성과 전기 성능을 보장하기 위해 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 수율, 비용, 생산 주기 시간 최적화에 필요한 툴을 제공합니다. 이 시스템은 초고해상도 (Ultra Resolution) 와 강력한 데이터 관리 소프트웨어 (Data Management Software) 의 독보적인 조합을 제공하여 웨이퍼의 가장 작은 기능을 측정하고 결과를 실시간으로 분석합니다. 또한 테스트 시간과 비용을 줄이기 위해 고밀도 웨이퍼 처리를 제공합니다. 이 장치는 특허를 받은 이중 위치 스캐닝 (dual-position scanning) 프로세스를 사용하여 웨이퍼 양쪽을 동시에 테스트할 수 있습니다. 따라서 잘못된 등록으로 인한 오류 발생 가능성을 줄이고, 테스트 및 도량형 (metrology) 비용을 증가시키는 수작업 처리의 필요성을 최소화할 수 있습니다. KLA P-1 (CLA P-1) 은 (는) 한 번의 패스로 웨이퍼 상단 및 후면에서 상세한 웨이퍼 지형 데이터를 캡처할 수 있는 멀티 스캔 기능을 사용합니다. 이 기능은 데이터를 분석하고 디버깅 (디버깅) 하는 데 도움이 됩니다. TENCOR P 1은 서브 미크론 (sub-micron) 기능과 어려운 형상의 측정의 정확성과 정밀도를 향상시키는 고급 스마트 알고리즘을 통합합니다. 빠른 이미지 캡처 (fast image capture) 기능이 포함되어 있으며 테스트 시간을 크게 단축하여 대부분의 시스템의 처리량을 두 배로 늘릴 수 있습니다. 또한 KLA P1 에는 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 가 포함되어 있어 시스템 상에서 신속하게 탐색하고, 매개변수를 설정하며, 테스트 데이터에 액세스할 수 있습니다. 향상된 시각화 (Visualization) 및 보고 (Reporting) 기능을 갖춘 이 툴은 운영 프로세스에 대한 포괄적인 뷰를 제공합니다. KLA/TENCOR P-1은 시간당 최대 200 개의 웨이퍼를 처리 할 수 있으며, 수동/자동 로딩 옵션과 지속적인 테스트를 위한 웨이퍼 언로드 옵션으로 구성 가능합니다. 또한, 자산은 검토 시간을 단축하는 데 도움이 되는 다양한 자동 분석/보고 (automated analysis and reporting) 기능을 지원합니다. 전반적으로, TENCOR P-1은 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델로, 반도체 부품의 정확성과 성능을 보장하기 위해 필요한 도구를 제공합니다. 대용량 생산이 가능하도록 설계되어 테스트 (testing) 에 소요되는 시간을 단축하고, 수익률을 향상시키며, 비용이 많이 드는 수동 처리 (manual handling) 를 제거하므로 측정이 부정확할 수 있습니다. KLA/TENCOR P 1은 효율적이고 안정적인 방법으로 복잡한 구성 요소를 테스트하고 도량형에 이상적인 솔루션입니다.