판매용 중고 KLA / TENCOR P-20H #293652635

KLA/TENCOR P-20H는 반도체 장치 생산을위한 고속, 고정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 기능을 제공하는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 빠르고 정확한 웨이퍼 (wafer) 품질 특성화 및 적응형 프로세스 제어를 위해 설계되었으며, 고성능 웨이퍼 (wafer) 제품을 생산할 수 있습니다. 광학 (optical), 전기 (electrical), 기계 (mechanical), 화학 분석 (chemical analysis) 등 광범위한 도량형 기술을 통해 다양한 응용 분야에서 웨이퍼 테스트 및 도량형 성능을 구현할 수 있습니다. KLA P20H는 고급 이미징 기술과 고급 광학, 전기, 기계, 화학 특성 기술을 결합하여 웨이퍼의 결함을 식별하고 분석합니다. 디지털 카메라를 사용하여 웨이퍼를 이미지화하고 집중된 이미징과 가변 각도 산포 이미징 (variable-angle scatter imaging) 을 결합하여 결함 감지, 분류 및 프로세스 최적화를 위한 고해상도 이미징을 제공합니다. 자동 매핑 및 결함 분석, 오버레이 정렬, 프로세스 모니터링 도구, 신호 처리 기술, 고급 데이터 분석 알고리즘 등 다양한 툴이 내장되어 있습니다. 이 장치는 자동 NDT (non-destructive testing) 기능을 제공하여 웨이퍼 테스트 및 도량형에서 높은 수준의 정확성과 반복 성을 제공합니다. TENCOR P 20H의 고속 (high speed) 은 웨이퍼 테스트가 빠른 방식으로 수행되므로 생산 프로세스를 적시에 조정할 수 있습니다. TENCOR P-20H는 NDT 기능 외에도 고급 도량형 분석 및 통합 소프트웨어 패키지를 제공하여 웨이퍼 프로세스와 도량형 성능의 정확한 특성을 제공합니다. Metrology Analysis Tool (MAT) 및 Process Analytic Machine (PAS) 과 같은 다양한 소프트웨어 패키지를 도량형 분석에 사용할 수 있습니다. 또한 P 20H는 포괄적인 추적 가능성 및 데이터 아카이빙을 제공합니다. 즉, 문제 해결 및 프로세스 최적화에 필수적인, 도량형 분석 (metrology analysis) 을 완벽하게 추적하고 데이터를 아카이빙할 수 있습니다. KLA P 20 H는 종합적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 기능을 제공하는 고급 도구입니다. 이 제품은 매우 효율적이고 정확한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 수단을 제공하여 프로세스 최적화를 통해 생산량 및 제품 성능을 향상시킵니다.