판매용 중고 KLA / TENCOR P-170 #293800571

KLA/TENCOR P-170은 정확하고 반복 가능한 결과를 제공하기 위해 제작 된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반자동 연산 (semiautomatic operation) 을 제공하며 더 세련된 작업에 필요한 정확한 수동 연산을 제공합니다. 시스템의 높은 정확도는 장치의 p 유형 접합 (p-type junction) 에서 다이 (die) 및 웨이퍼 (wafer) 레벨 결함을 측정하는 기능과 더 정확한 분석을 위해 통합 된 세부 이미지를 제공하기 때문입니다. 이 장치는 빛에 크게 노출되고 고해상도 측정을 처리 할 수있는 장기 작업 챔버 (long-working chamber) 를 특징으로합니다. 이 "챔버 '는 광학 기계 와 열적· 전자적 으로 결합 되어, 측정 의 정확성 과 반복성 이 높다. 또한, 이 툴에는 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 가 장착되어 있어 결과와 데이터를 손쉽게 편집, 관리할 수 있습니다. KLA P-170은 높은 정확도로 웨이퍼를 테스트하고 측정하도록 설계된 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 자산은 다이 레벨 매핑, 다이 레벨 실패 분석 및 다이 레벨 결함 밀도가 가능합니다. 또한 저조도 매핑 (low-light mapping) 모드를 제공하여 모델이 최상의 해상도로 이미지를 기록 할 수 있습니다. 또한이 장비에는 라인 밀도, 다이 균일 성, 결함 분석, 오버레이 도량형, 측정 템플릿 및 사용자 정의 커브 교정이 있습니다. 부가적인 편의로, 이 시스템은 다양한 소프트웨어 (wafer testing 및 metrology) 를 위해 여러 버전 간에 전환하여 사용자 정의 프로그램을 만들 수 있는 다양한 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 기본 제공되는 교정 루틴을 통해 설치 및 사용이 쉽고, 웨이퍼 무결성 모니터 (Wafer Integrity Monitor) 는 사용자가 놓쳤을 수 있는 모든 잠재적 문제에 대한 빠른 피드백을 제공합니다. 결론적으로, TENCOR P-170은 매우 정확하고 반복 가능한 결과를 제공 할 수있는 기술적으로 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치입니다. 이 기계는 인체 공학적으로 설계되어 있어 복잡한 테스트 (complex test) 와 측정 (measurement) 을 손쉽게 수행할 수 있으며, 높은 정확도를 유지할 수 있습니다. 이 툴은 또한 여러 가지 기능을 제공하여 연구/운영 작업에 매우 효율적이고 비용 효율적입니다.