판매용 중고 KLA / TENCOR IS-2000 #293616225

KLA/TENCOR IS-2000은 다기능, 고정밀, 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 결함 검토, 전기 테스트, 웨이퍼 (on-wafer) 패라메트릭 측정, 고급 이미징 등 다양한 도량형 및 테스트 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 시스템의 통합 실시간 웨이퍼 매핑 (real-time wafer mapping) 기능은 wafer 의 여러 사이트에 대한 동시 분석, 빠른 설정, 조정, 테스트 속도를 지원합니다. 이 장치는 비접촉, 비파괴적 광학 측정 기술을 활용하여 고해상도, 고해상도, 빠른 스캐닝 기능을 제공합니다. 고급 이미지 획득 (advanced image acquisition), 이미지 처리 (image processing) 기술 및 정교한 알고리즘을 조합하여 웨이퍼 (wafer) 의 여러 위치에 걸쳐 장치의 매개변수를 매우 정확하게 측정합니다. 즉, 일생 동안 디바이스의 안정성과 성능을 보장하는 이상적인 머신이 됩니다. 이 도구의 광범위한 웨이퍼 테스트 및 도량형 기능에는 고해상도 기능 측정 및 분석, 빠른 구조 및 결함 배치 식별, 에지 감지, 자동 2D/3D 데이터 추출 등이 포함됩니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어와 직관적인 터치스크린 인터페이스 (TouchScreen Interface) 는 대화형, 유연한 플랫폼을 제공하여 효율적인 테스트 주기 (Test Cycle) 를 지원합니다. 또한 여러 테스트 결과와 이미지를 보기, 저장, 조작할 수 있으므로 데이터 보안 및 데이터 분석 (Data Analysis) 이 향상됩니다. 또한, 다양한 애플리케이션의 자동 보정 및 테스트 작업을 허용하는 정교한 제조 수준 테스트 시퀀스 제어 (fabrication-level test sequence control) 프로그램이 있습니다. 이 자산은 자동화된 인라인 도량형 (in-line metrology), 결함 원인 및 분석, 패라메트릭 측정 기능 등을 제공하여 웨이퍼 제조 프로세스에 귀중한 도구입니다. 파퍼 (wafer) 매개변수에서 가장 작은 변형까지 감지하고 사양 매개변수를 빠르게 발견할 수 있습니다. 또한 설치/운영이 매우 용이하여 작업 중 (on-job) 교육이 빨라지고 업무 중단이 최소화됩니다. 또한, 이 모델은 엄격한 테스트를 거쳐 높은 정확성과 신뢰성을 보장합니다. 결국, KLA IS-2000은 광범위한 기능을 갖춘 고급 다기능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 즉, 고정밀도, 비접촉, 비파괴적 광학 측정 기술을 통해 디바이스의 매개변수를 신속하게 테스트할 수 있습니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어, 직관적인 터치스크린 인터페이스 (Touchscreen Interface), 그리고 가장 작은 변형을 신속하게 감지할 수 있는 기능을 갖춘 이 시스템은 평생 동안 디바이스의 안정성과 성능을 보장하는 데 매우 적합합니다.