판매용 중고 KLA / TENCOR FLX-2908 #9249045

KLA/TENCOR FLX-2908 Wafer Testing and Metrology Equipment는 다양한 웨이퍼 레벨 장치를 검사하도록 설계된 최첨단 성능 검사 및 분석 시스템입니다. 자동화된 기술을 통해 KLA FLX-2908은 재료 특성, 테스트, 최적화 측면에서 빠른 속도와 정확성을 제공합니다. TENCOR FLX 2908 장치는 테스트 된 웨이퍼의 여러 이미지를 단일 노출 (exposure) 으로 얻을 수있는 고급 이미징 머신 (imaging machine) 을 제공하여 웨이퍼 속성에 대한 자세한 통찰력을 제공합니다. 서피스 피쳐, 수율, 결함 및 기타 물리적 특성과 같은 웨이퍼 특성을 식별하고 정량적으로 측정 할 수 있습니다. 그런 다음 이러한 측정을 사용하여 프로세스 성능을 최적화합니다. FLX-2908 툴에는 다중 채널, 컴퓨터 지원 결함 감지 프로세스도 있습니다. 자산은 광학, 기계, 신호 분석 도구 (optical, mechanical, and signal analysis tools) 의 통합된 배열을 사용하여 기판 및 레이어 전반에 걸쳐 다양한 결함을 감지하고 정량화할 수 있습니다. 이것은 전반적으로 높은 수익률을 보장합니다. 또한 KLA FLX 2908 모델은 테스트 및 도량형을 더욱 개선하는 몇 가지 추가 성능 기능을 제공합니다. 여기에는 하나의 자동 장비에서 여러 웨이퍼 테스트의 상관 관계를 분석하는 고급 테스트 셀 (test cell) 통합이 포함됩니다. 또한 테스트 표본의 동작을 시간 경과에 따라 기록하고 분석할 수 있는 종합적인 메트릭 (Metrics) 데이터베이스가 특징입니다. FLX 2908 시스템은 사용자가 테스트 매개변수를 사용자 정의하고 결과를 제어하기 위한 규칙을 설정할 수 있는 구성 기능이 뛰어난 소프트웨어 구성 요소를 제공합니다 (영문). 이를 통해 다양한 웨이퍼 및 운영 실행에서 정확하고 일관된 측정이 가능합니다. 전체적으로 TENCOR FLX-2908 Wafer Testing and Metrology Unit은 빠르고 정확하며 반복 가능한 측정을 제공하는 자동 검사 및 분석 기계입니다. 이 도구는 제조업체가 웨이퍼 (wafer) 속성에 대한 심층적인 통찰력을 제공하여 제품의 성능과 생산성을 보장하도록 도와줍니다. 이러한 통찰력을 통해, 사용자는 고품질 제품을 보장하고, 테스트/프로세스 실패를 줄일 수 있습니다.