판매용 중고 KLA / TENCOR D-120 #9119137

KLA/TENCOR D-120은 III-V, Si, Ge 및 Compound Semiconductors를 포함한 광범위한 재료에서 장치 구조 및 전기 성능에 대한 정확한 정보를 제공하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 수동/자동 테스트 기능과 함께 다중 기술 기능을 제공하며, 고해상도, 적외선, 가시적 분광형 옵션 등 다양한 이미징 기능을 제공합니다. KLA D-120 장치는 다양한 웨이퍼 측정 및 검사 도구이며, 수동 및 자동 테스트를 제공합니다. 고정밀 광학 센서, 전자광학 센서, 비디오메트릭 센서 등을 활용하면, 다양한 소재에서 다양한 전기 및 물리적 측정을 수행할 수 있습니다. 이 기계에는 나노 미터 스케일 (nanometer scale) 내에서 정확하게 반복 가능한 측정과 같은 고급 웨이퍼 측정 기능을 제공하는 통합, 컴퓨터 제어 하위 시스템이 있습니다. 이 도구에는 다양한 고급 (advanced) 기술이 적용되어 정확한 테스트 및 도량형 결과를 보장합니다. 접촉 전압 측정, 온도 의존적 저항 측정, 전자 현미경 스캐닝 및 관련 에너지 분산 분광학 분석 (dispersive spectroscopy analysis) 을 수행 할 수 있습니다. 또한 TENCOR D-120은 나노 스케일 패턴 정렬 및 이미징, 공간 해상도가 높은 미크론 스케일 이미지 스캔 기능을 제공합니다. D-120 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산은 터치 스크린 기반 제어 모델을 제공하여 효율적인 운영을 지원합니다. 이 장비에는 번들로 제공되는 KLA 소프트웨어가 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 장치 문제 해결, 종합적인 2 차원 웨이퍼 매핑, 웨이퍼 추적 데이터베이스 등 다양한 기능에 액세스할 수 있습니다. KLA/TENCOR D-120은 종합적인 테스트 및 도량형 시스템으로, 풍부한 프로세스 내 및 포스트 프로세스 분석 기능을 제공합니다. 스캐닝 전자현미경 (Scanning Electron Microscopy), 연락처 전압 측정 (Contact Voltage Measurement), 철저한 데이터 수집 기능 및 직관적인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 등의 첨단 기술을 활용하여 성능, 안정성 및 설계를 위한 매우 정확한 웨이퍼 측정 및 검사 솔루션을 제공합니다.