판매용 중고 KLA / TENCOR D-100 #293757496

KLA/TENCOR D-100은 고급 반도체 nanofabrication 작업을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 장치는 물리적 (physical) 테스트와 전기적 (electrical) 테스트를 모두 처리하기 위해 독보적인 2인원 (two-in-one) 설계를 활용하여 프로세스 제어 엔지니어가 고성능 요구 사항에 맞춰 반도체 구성 요소를 신속하게 검증할 수 있습니다. 이 시스템의 기능은 다음과 같습니다. * 3D Imaging Technology 기반의 고성능 장치 기능으로, 인치당 최대 10,000줄의 고해상도 3D 표면 이미지를 캡처합니다. (LPI) 해상도. * 자동화된 결함 표시 및 분류 (Automated Defect Marking and Classification) 기능에서 얻은 빠르고 정확한 결과. * 자동화된 웨이퍼 추적 및 결함 탐지를 통해 엔지니어가 결함의 원인을 신속하게 분석하고 반도체 생산에 영향을 줄 수있는 모든 문제를 신속하게 진단할 수 있습니다. * 통합 (Integrated) (CD) 생산 웨이퍼에서 빠른 도량형 측정을 수행하기 위한 측정 기계. * 자동화된 웨이퍼 처리 및 테스트 (Automated wafer handling and testing) 를 통해 엔지니어는 정확하고 반복 가능한 움직임으로 웨이퍼 처리량을 극대화할 수 있습니다. 이 도구는 직경이 1 "~ 12" 인 웨이퍼를 처리 할 수 있습니다. * 데이터 교환과 기존 시스템과의 손쉬운 통합을 위해 프린터, 스캐너, 기타 기기와 같은 여러 장치와의 연결을 제공합니다. KLA D-100은 반도체 업계에 대한 인라인 (in-line) 프로세스 모니터링 및 장애 분석을 제공하는 종합적인 분석 도구 제품군을 제공합니다. 자산의 고급 3D 이미징 기술을 통해 엔지니어는 웨이퍼의 고해상도 3D 표면 이미지를 신속하게 캡처할 수 있으며, 자동화된 결함 표시 및 분류 (Automated Defect Marking and Classification) 는 빠르고 정확한 결과를 제공합니다. 통합 Critical Dimension (CD) 측정 모델은 정확한 도량형 측정을 제공하며 자동화된 웨이퍼 처리 및 테스트는 웨이퍼 처리량을 최대화합니다. 또한 디바이스의 접속성을 통해 데이터 교환과 기존 시스템과의 통합을 원활하게 수행할 수 있습니다. 전반적으로, TENCOR D-100은 고성능 요구 사항에 맞춰 반도체 구성 요소를 빠르고 정확하게 검증하기 위한 최적화된 장비입니다.